涂層膜厚測試儀原理

　　涂層膜厚測試儀被廣泛應用于測量從0.1到50微米各種薄膜材料的厚度。無論單層或多層薄膜，簡單的球磨測試都能快速準確的測定每一層薄膜的厚度。典型的試樣包括CVD、 PVD、等離子噴射涂層、陽極氧化薄膜、離子濺射薄膜、化學和電鍍沉積鍍膜、高分子薄膜、涂料、釉漆等等。

　　原理：一個半徑精確已知的磨球由自身重力作用于鍍膜試樣表面并進行自轉。在測試過程中，磨球與試樣的相對位置以及施加于試樣的壓力保持恒定。磨球與試樣間的相對運動以及金剛石顆粒研磨液的共同作用將試樣表面磨損出一球冠形凹坑。 隨后的金相顯微鏡觀測可以獲得磨損坑內涂層和基體部分投影面積的幾何參數。在得知了X和Y的長度后，涂層的厚度D可以通過簡單的幾何公式計算得出。

天瑞儀器thick800aX射線無損傷鍍層測厚儀產品介紹

Thick800a是一款基于無損傷XRF原理的鍍層測試技術，有效分析范圍0到50微米，測試5層以內的金屬鍍層厚度。與其他測厚儀相比，x射線熒光無損傷鍍層測厚儀的精度要遠遠超出。

天瑞儀器是X射線無損傷鍍層測厚儀三大品牌之一，天瑞的thick800a滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求，φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結果更加精準。

產品結構圖：

技術指標

1、儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制

檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。

樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm

移動范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm

2、儀器重量：90kg

3、SDD半導體探測器：

探測器輸入電壓：±12V，+5V

探頭窗口面積：25mm-2---

探頭窗口厚度：0.5mil

分辨率：140±5eV

探頭內制冷溫度：<-40℃

4、X射線光管：

管壓：5-50kV

管流：0-1mA

靶材：W靶

窗口：鈹窗

制冷方式：風冷

工作溫度：≤75℃

5、高壓發生器：

輸入電壓：24V

輸入較大電流：5A

管壓：0-50kV

管流：0-2mA

燈絲較大電壓：5V

燈絲較大電流：3.5A

6、MCA多道分析器：

輸入電壓：±12V，+5V

采樣頻率：100 KHZ

脈沖幅度：0-7.6V

A/D位數：12位

分析道數：2048道

7、準直器系統：

準直器：?0.1 mm(可根據要求選配)

濾光片：Mo(可根據要求選配)

8、高清晰攝像頭：

傳感器類型：CCD（彩色）

接口：USB2.0

傳感器廠商：索尼

快門類型：面陣

光學尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：

感應度：0.58V（索尼標準）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門速度：1/1538-1/30（秒）

9、自動對焦系統：

通用數字激光傳感器、CMOS激光傳感器

良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護。Thick800A是基于X射線熒光無損分析原理的快速鍍層測驗，是一款上招式設計的，自帶三維移動平臺，XYZ可定點，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點。這款功能強大的儀器，配上天瑞儀器專門為其開發的鍍層測厚軟件，在鍍層檢測中可謂大展身手。

實現樣品測試譜圖，高清，譜線明顯。

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

產品輻射報告：

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本46176萬。旗下擁有蘇州天瑞環境科技有限公司、北京邦鑫偉業技術開發有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質譜儀器儀表有限公司、江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限。