X射線膜厚度分析儀產(chǎn)品介紹

X射線膜厚度分析儀產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)介紹，江蘇天瑞儀器股份有限公司專業(yè)生產(chǎn)X射線膜厚度分析儀儀thick800a具有良好的射線屏蔽作用，測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。

天瑞公司的thick800a能夠滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求，φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求，高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度，定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊，鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)，高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)。天瑞儀器X-ray鍍層測(cè)厚儀Thick800A是基于X射線熒光無損分析原理的快速鍍層測(cè)驗(yàn)，是一款上招式設(shè)計(jì)的，自帶三維移動(dòng)平臺(tái)，XYZ可定點(diǎn)，在鍍層檢測(cè)中可謂大展身手。

技術(shù)指標(biāo)

SDD半導(dǎo)體探測(cè)器：探測(cè)器輸入電壓：±12V，+5V，探頭窗口面積：25mm-2---，探頭窗口厚度：0.5mil，分辨率：140±5eV，探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃。

X射線光管：管壓：5-50kV，管流：0-1mA，靶材：W靶，窗口：鈹窗，制冷方式：風(fēng)冷，工作溫度：≤75℃。

高壓發(fā)生器：輸入電壓：24V，輸入較大電流：5A，管壓：0-50kV，管流：0-2mA，燈絲較大電壓：5V

，燈絲較大電流：3.5A

MCA多道分析器：輸入電壓：±12V，+5V，采樣頻率：100 KHZ，脈沖幅度：0-7.6V，A/D位數(shù)：12位

分析道數(shù)：2048道

準(zhǔn)直器系統(tǒng)：準(zhǔn)直器：?0.1 mm(可根據(jù)要求選配)，濾光片：Mo(可根據(jù)要求選配)

高清晰攝像頭：傳感器類型：CCD（彩色），接口：USB2.0，傳感器廠商：索尼，快門類型：面陣，光學(xué)尺寸：1/4英寸，有效像素：659(H)×494（V），有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：感應(yīng)度：0.58V（索尼標(biāo)準(zhǔn)）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門速度：1/1538-1/30（秒）

自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)：通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器

儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測(cè)試時(shí)，可開蓋，對(duì)樣品長(zhǎng)度無限制

檢測(cè)開槽口時(shí)，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。

樣品臺(tái)尺寸：230(W)×210(D)mm

移動(dòng)范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

應(yīng)用領(lǐng)域：

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).

金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

樣品測(cè)試譜圖，高清，譜線明顯。：

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè)，注冊(cè)資本46176萬(wàn)。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術(shù)開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質(zhì)譜儀器儀表有限公司、江蘇國(guó)測(cè)檢測(cè)技術(shù)有限公司、上海磐合科學(xué)儀器股份有限。專業(yè)的400售后維修熱線，7*24小時(shí)在線，4小時(shí)響應(yīng)，24小時(shí)上門服務(wù)。

售后服務(wù)：

公司本著“客戶至上、高效快捷、誠(chéng)信務(wù)實(shí)、價(jià)格合理"的經(jīng)營(yíng)合作理念,為您提供快速優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。產(chǎn)品送貨上門，培訓(xùn)安裝，耗材配件，實(shí)驗(yàn)室打包解決方案。

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膜厚儀與涂層測(cè)厚儀的差別

膜厚儀一般來說和涂層測(cè)厚儀是一類產(chǎn)品。

膜厚儀一般是測(cè)氧化膜層厚度，常見的鋁基，銅基氧化，測(cè)量時(shí)候用涂層測(cè)厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測(cè)鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。

涂層測(cè)厚儀正常情況下有兩種測(cè)量原理，配F合N探頭，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測(cè)厚儀誤差比較大，需要用高精度的涂層測(cè)厚儀測(cè)量氧化層.

兩者是只是根據(jù)材料有細(xì)微區(qū)別，不過現(xiàn)在使用者很多不了解，也相互稱呼。