x熒光光譜儀xrf是天瑞儀器公司為合金測(cè)試專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的儀器類(lèi)型。
具有測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。
同時(shí)具有合金測(cè)試、合得獎(jiǎng)號(hào)分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測(cè)樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
x熒光光譜儀xrf標(biāo)準(zhǔn)配置
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
合金測(cè)試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進(jìn)口SDD探測(cè)器
信噪比增強(qiáng)器SNE
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
三重安全保護(hù)模式
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm70mm的液晶屏
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
外形尺寸：660mm510mm350mm
樣品腔體積：320mm100mm
重量：65Kg
x熒光光譜儀xrf性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平
針對(duì)合金的測(cè)試而開(kāi)發(fā)的專(zhuān)用配件
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器專(zhuān)利產(chǎn)品信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號(hào)處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制；
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
x熒光光譜儀xrf技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍：ppm99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒
能量分辨率為：（1405）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
x熒光光譜儀xrf應(yīng)用領(lǐng)域
檢測(cè)以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類(lèi)產(chǎn)品，同時(shí)可以測(cè)試礦石成份、環(huán)保ROHS測(cè)試等，天瑞儀器作為3600H型X熒光光譜儀廠家，產(chǎn)品價(jià)格更優(yōu)惠，質(zhì)量更有保障，維護(hù)成本更低，為客戶降低了各方面成本。

X熒光光譜儀主要用途
X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以 測(cè)定元素含量。
近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

x熒光光譜儀1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
???2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、（Hg）、六價(jià)鉻（Cr6+）、
???（PBB）和醚（PBDE）中的溴
???3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對(duì)濕度：≤70
???電源：AC220V±10、50/60Hz
???4．技術(shù)指標(biāo)新高靈敏度探測(cè)器（分辨率達(dá)149Ev），精密的放大電路，
???提高Cd、Pb元素的靈度。
???檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
???樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀
???樣品類(lèi)型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
???小樣品腔尺寸：300×300×100mm
???大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
???X射線管：材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
???照射直徑：2、5、8mm
???探測(cè)器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測(cè)器
???濾光片：八種新型濾光片自動(dòng)選擇
???樣品定位：微動(dòng)載物平臺(tái)（選配）
???樣品觀察：130萬(wàn)分辨率彩色CCD攝像機(jī)
???微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件
???定量分析：理論Alpha

X熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)
a) 分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，10～300秒就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。目前含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。
f) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

X熒光光譜儀X熒光光譜儀
X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。
X熒光光譜儀分類(lèi)
X熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型：波長(zhǎng)色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。
以X熒光的波粒二象性中波長(zhǎng)特征為原理的稱(chēng)為波長(zhǎng)色散型，以能量特征為原理的稱(chēng)為能量色散型。

x熒光光譜儀主要特點(diǎn)
1.檢測(cè)對(duì)象:液體/固體/粉末-固體樣品:點(diǎn)射配件-液體樣品:樣品池配件，適用于8mm瓶,NMR管和MP管?
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式：-重量輕-遠(yuǎn)程控制-藍(lán)牙無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸(或U)-電池可持續(xù)運(yùn)作5小時(shí)-數(shù)據(jù)庫(kù)可無(wú)限擴(kuò)充?
4.全球小的高性能光譜
5.120mW激發(fā)光源，功率可變
6.熒光成像可選
7.達(dá)到極限衍射的成像和光譜
8.數(shù)據(jù)庫(kù)可無(wú)限擴(kuò)展

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