X熒光光譜儀優點
a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e) 分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

x熒光光譜儀xrf是天瑞儀器公司為合金測試專門開發的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合得獎號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態為固體、液體、粉末等。
x熒光光譜儀xrf標準配置
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
信噪比增強器SNE
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
三重安全保護模式
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm70mm的液晶屏
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
外形尺寸：660mm510mm350mm
樣品腔體積：320mm100mm
重量：65Kg
x熒光光譜儀xrf性能特點
高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
針對合金的測試而開發的專用配件
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器專利產品信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上
低能X射線激發待測元素，對Pb、S等微含量元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制；
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
x熒光光譜儀xrf技術指標
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍：ppm99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（1405）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
x熒光光譜儀xrf應用領域
檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產品，同時可以測試礦石成份、環保ROHS測試等，天瑞儀器作為3600H型X熒光光譜儀廠家，產品價格更優惠，質量更有保障，維護成本更低，為客戶降低了各方面成本。

x熒光光譜儀主要特點
1.檢測對象:液體/固體/粉末-固體樣品:點射配件-液體樣品:樣品池配件，適用于8mm瓶,NMR管和MP管?
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式：-重量輕-遠程控制-藍牙無線數據傳輸(或U)-電池可持續運作5小時-數據庫可無限擴充?
4.全球小的高性能光譜
5.120mW激發光源，功率可變
6.熒光成像可選
7.達到極限衍射的成像和光譜
8.數據庫可無限擴展

x熒光光譜儀1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
???2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、（Hg）、六價鉻（Cr6+）、
???（PBB）和醚（PBDE）中的溴
???3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對濕度：≤70
???電源：AC220V±10、50/60Hz
???4．技術指標新高靈敏度探測器（分辨率達149Ev），精密的放大電路，
???提高Cd、Pb元素的靈度。
???檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
???樣品形狀：任意大小，任意不規則形狀
???樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
???小樣品腔尺寸：300×300×100mm
???大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
???X射線管：材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
???照射直徑：2、5、8mm
???探測器：Si(PIN)半導體高靈敏度探測器
???濾光片：八種新型濾光片自動選擇
???樣品定位：微動載物平臺（選配）
???樣品觀察：130萬分辨率彩色CCD攝像機
???微區分析：X光聚焦微區分析系統（選配）軟件
???定量分析：理論Alpha

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