針對EDX0在各個領域的廣泛應用，根據優化產品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款EDX0B。應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。

性能特點

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率

技術指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

標準配置

樣品平臺
電制冷Si-PIN探測器
檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機

應用領域

RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

針對EDX0在各個領域的廣泛應用，根據優化產品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款EDX0B。應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。

性能特點

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率

技術指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

標準配置

樣品平臺
電制冷Si-PIN探測器
檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機

應用領域

RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

超高分辨率：
采用SDD硅漂移探測器 ，分辨率為139±5ev ，而常規的Si-PIN探測器，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。

超高度，性能優：
使用25mm2大面積鈹窗探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術，提高分析速度，總體提高系統處理能力，計數率可達8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

超清晰攝像頭，定位：
采用新型工業級相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現定位。

小準直器，輕松實現精小部位測試：
提供多種準直器，直徑小達0.2mm，可輕松實現精小部位的測試，同時可根據測試需求電動切換準直器，使測量更加輕松更加準確。

一鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱：
FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作一步到位。

技術參數

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達ppm級
分析含量一般為ppm到99.99
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：139±5eV
臺式x熒光光譜儀是研究物與蛋白質相互作用的常用儀器。物與蛋白質相互作用后可能引起物自身熒光光譜和蛋白質自身熒光(內源熒光)光譜以及同步熒光光譜的變化，如熒光強度和偏振度的改變出現等，這些均可以提供物與蛋白質結合的信息。 臺式x熒光光譜儀對于一種未知發光性能的熒光粉來說，測試發射譜時，通常利用氙燈的強254nm發射來激發樣品。這時激發單色器就從氙燈發射出來的復合光中分出254nm的紫外光。該紫外光照射到熒光粉上，有可能激發熒光粉使其發射某種顏色的光。熒光粉發射的混合波長的光被發射單色器以單色光的形式一一鑒別釋放，同時利用PMT記錄相應的強度。
臺式x熒光光譜儀技術已成功應用于環境、食物鏈、動植物、農產品、人體組織細胞及器官、生物醫學材料、組織細胞、醫學試劑、動植物器官、代謝產物中的無機元素測定。目前XRF分析專家們已普遍走出了單純進行分析側試研究的范疇，廣泛開展了分析數據與所包含信息的相關性研究，試圖揭示出分析結果與及環境變化等的內在聯系，為診斷與預防、環境預測與治理等提供科學依據。
臺式x熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺式x熒光光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特征輻射，通過側里和分析樣品產生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質成分的定性和定量信息。
特征臺式x熒光光譜儀的產生與特性當用高能電子束照射樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負的加速度會產生寬帶的連續X射線譜，簡稱為連續潛或韌致輻射。另一方面，化學元素受到高能光子或粒子的照射，如內層電子被激發，則當外層電子躍遷時，就會放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續譜。如果激發光源為x射線，則受激產生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產生的過程。



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