更準確的檢測結果是天瑞人堅持不懈的追求，同時天瑞人還時刻牢記為客戶提供更優(yōu)質的服務。全新開發(fā)研制的EDX 9000正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用分析儀器行業(yè)先進的極速探測器技術（X-SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000還采用了天瑞儀器專利產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設計自動樣品平臺讓準確檢測得到保證。

性能優(yōu)勢

快—1秒鐘出結果
采用行業(yè)先進的極速探測器技術——（X-SDD）分辨率至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內接受信息多、計數(shù)率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
采用行業(yè)先進的數(shù)字多道技術
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實現(xiàn)超高計數(shù)率，保證采集有效計數(shù)率可達1000Wcps
采用大功率X光管及先進的準直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢：激發(fā)效率更高
光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點
多點測試
2D全自動樣品臺——可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
人性化的設計
更安全：X射線聯(lián)動安全裝置——光閘與聯(lián)動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預約預熱：根據(jù)設定時間，儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài)；同時可以實現(xiàn)預約關機，
關機前可設定聲光提示

技術參數(shù)

測量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9
穩(wěn)定性：0.02
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換
濾光片：4種濾光片切換
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度：≤70
環(huán)境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

秉承X熒光光譜儀20多年研發(fā)經(jīng)驗，天瑞元素錄井分析儀EDX5500H再次推動了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發(fā)展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項技術的獨到之處在于：通過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。

高效真空形成條件及高靈敏半導體探測器保障對巖心中的元素具有超低的檢出限，為錄井平臺提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時檢測需求；同時引入了目前先進的4096道數(shù)字多道技術，采用進口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線管，使儀器計數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好，適用面更廣；

優(yōu)化了光路結構、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；

獨特的抗震性設計，高保護光路設計使得該儀器通過了第三方權威機構高低溫、高低頻電動振動及濕熱等使用認證；

在現(xiàn)場測試、在線檢測以及各類地質勘察多元素檢測中充分發(fā)揮作用。



主機標準配置：

上照式光路系統(tǒng)直射模式 SDD探測器 數(shù)字多道處理器 美國進口高壓

進口牛津鈹窗X射線管 智能測試軟件 校正模塊內置 封閉式定向散熱系統(tǒng)

高阻尼可動防震緩沖支腳 定制CCD高清攝像頭

整套設備包括: Ｘ熒光分析主機、電腦、打印機、粉碎機、壓片機、真空泵



錄井行業(yè)應用案例

l 巖心成份普查：

僅需簡單前處理，微量多種元素成分盡在掌握。



l 現(xiàn)時分析

能快速、現(xiàn)場追蹤巖心數(shù)據(jù)，圈定油氣邊界。單個樣品30多種元素測試僅需1~4分鐘；



l 現(xiàn)場分析

獨特的減震、超小的真空腔、超穩(wěn)固樣品靜態(tài)控制結構設計使儀器可以應對各種現(xiàn)場環(huán)境的檢測任務；



儀器性能優(yōu)勢：

儀器外形小巧，簡潔大方，可用于車載和實驗室，使用方法簡單，測試效率高；

測試時上照式光路設計加上真空測試腔有效杜絕現(xiàn)場環(huán)中粉塵對探測器的污染；

準直器極大化設計使樣品受激光斑達mm2 保證測試的豐富性，提高測試度

封閉式定向風冷散熱保證X射線管工作溫度穩(wěn)定，延長X射線管壽命；

分析樣品速度快，快可達60S，并且可同時分析40種元素；

高阻尼可動支腳防震設計加上超穩(wěn)真空控樣設計保證了每一個樣品與光管、探測器幾何關系時刻相一致，屏蔽現(xiàn)場震動所造成的影響；

大面積厚晶體SDD探測器，配上RhX光管以及良好的散熱性，有力地確保測試高效穩(wěn)定；

X射線屏蔽設計和高材料及安全聯(lián)動裝置有效保證無輻射外漏，讓測試人員安全放心使用；

合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技術指標：
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV

XRF分析儀器是利用X射線無損檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
新的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術參數(shù)

產(chǎn)品型：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標準配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
鋼鐵行業(yè)測試專用配件
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然


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