鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
測量原理與儀器一．磁吸力測量原理及測厚儀永久磁鐵（測頭）與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系，這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導磁率之差足夠大，就可進行測量。鑒于大多數工業品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應用廣。測厚儀基本結構由磁鋼，接力簧，標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產品可以自動完成這一記錄過程。不同的量程與適用場合。這種儀器的特點是操作簡便、堅固耐用、不用電源，測量前無須校準，價格也較低，很適合車間做現場質量控制。
二．磁感應測量原理采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用專利設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1，量程達10mm。測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐涂層。
三．電渦流測量原理高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，也達到了分辨率0.1um，允許誤差1，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如器表面、車輛、家電、鋁合窗及其它鋁制品表面的漆，及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。

X射線測厚儀thick800a是天瑞儀器專業研制的檢測金屬厚度的儀器，已經在電鍍行業得到大規模的應用，深受客戶**。儀器采用獨特的上照式機構，能夠適應各種不規則和體積大小樣品的表面鍍層測試。三維自動平臺，可實現X/Y/Z軸的自動定位，操作性能好。產品實際性能同類品牌三年以上。X射線電鍍層膜厚儀介紹及圖片：


X射線膜層測厚儀技術參數：


儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制

檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。

樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm

范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm

2、儀器重量：90kg

3、SDD半導體探測器：

探測器輸入電壓：±12V，+5V

探頭窗口面積：25mm-2---

探頭窗口厚度：0.5mil

分辨率：140±5eV

探頭內制冷溫度：<-40℃

4、X射線光管：

管壓：5-50kV

管流：0-1

材：W

窗口：鈹窗

制冷方式：風冷

工作溫度：≤75℃

5、高壓發生器：

輸入電壓：24V

輸入電流：5A

管壓：0-50kV

管流：0-2

燈絲電壓：5V

燈絲電流：3.5A

6、MCA多道分析器：

輸入電壓：±12V，+5V

采樣頻率：100 KHZ

脈沖幅度：0-7.6V

A/D位數：12位

分析道數：4096道

7、準直器系統：

準直器：?0.1 mm(可根據要求選配)

濾光片：Al(可根據要求選配)

8、高清晰攝像頭：

傳感器類型：CCD（彩色）

接口：U2.0

傳感器廠商：索尼

快門類型：面陣

光學尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：

感應度：0.58V（索尼標準）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門速度：1/1538-1/30（秒）

9、自動對焦系統：

通用數字激光傳感器、CMOS激光傳感器

實現樣品高度的自動對焦。



廠商實力：



江蘇天瑞儀器的發展得到了各級的大力支持與幫助，現任局、十二屆**會長，現任局、政協第十二屆全國會，時任局、副總理等各級多次來訪視察工作！



現任局、十二屆**會長等人來我公司調研

現任局常、政協第十二屆全國會委等參觀天瑞儀器


江蘇天瑞儀器股份有限公司被授予“火炬計劃重點高新技術企業”，“江蘇省高新技術企業”，“江蘇省軟件企業”，“江蘇省科技創新示范企業”，“江蘇省規劃布局內重點軟件企業”，“江蘇省光譜分析儀器工程技術研究中心”等榮譽稱。產品具有國際的技術水平，X熒光光譜儀系列產品被認定為“重點新產品”和“江蘇省高新技術產品”。產品品種齊全，為環境保護與安全、工業測試與分析及其它領域提供專業解決方案。



X射線電鍍層測厚儀輻射安全許可證



X射線鍍層測厚儀計量證書。



售后服務體系：



只要客戶方的系統存在問題，請即刻我司的售后服務電話由我司技術工程師遠程指導用戶解決問題。免費服務電話：800-9993-800，24小時服務：400-7102-888

快速的現場服務

當客戶方的系統被診斷為系統故障，而無法通過電話／電子郵件方式、遠程撥入分析等手段解決時，我們的現場工程師會帶上相應的系統工具和軟件立即趕赴現場進行緊急維護。我司承諾在接到業主維修及技術服務要求后立即做出相應，在遠程不能解決問題的情況下，我司工程人員將在24小時內趕到現場，48小時解決出現的問題，保證系統恢復正常運行。

定期訪問交流

定期訪問交流

在客戶系統運行過程中，我司將采取專人定期、不定期方式進行訪問交流，調查項目實施和維護情況，聽取用戶意見，現場解決用戶存在問題，現場對系統進行測試和優化，及時發現系統存在的問題或潛在的故障，提前消除隱患，確保系統安全、穩定的運行，并對此系統運行質量評估。

以上客戶服務響應方式并不是相互孤立、互不相關的，而是以公司的客戶服務中心的組織結構為依托，多種靈活的服務方式相互滲透、緊密結合成為完整統一的客戶服務故障響應體系。這種體系經多個大型工作項目的實際運行體驗，以被認為是高效可行的故障響應方式。

故障響應

針對該項目我公司將以優良的服務態度，我公司承諾在接到業主維修及技術服務要求后立即響應，在遠程能解決問題的情況下，30分鐘以內響應，12小時以內完成提出的維修要求，緊急情況2小時內趕赴現場搶修，一般情況下24小時到達現場。若48小時內無法解決問題，需更換設備或送修，我方承諾提供備機，保證系統恢復正常運行。



客戶服務網點

天瑞儀器已在國內近30個主要城市設立客戶服務網點，提品現場維護與技術支持服務。服務網點售后服務工程師全部經過嚴格專業培訓，具備豐富的產品安調與維護保養經驗。客戶服務網點同時設置備品備件庫，根據周邊地區客戶使用的天瑞儀器產品數量，配置充足的常用備品備件；根據備品備件消耗情況，由上級主管區域服務中心動態調配補充備品備件庫。

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
b基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
e曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，歐譜因此在這些試件上測出可靠的數據。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
g磁場
周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
h附著物質
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
j測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。a基體金屬特性
對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
b基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
c邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
d曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。
e讀數次數
通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
f表面清潔度
測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質


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