x射線熒光X-ray膜厚儀介紹
x射線熒光X-ray膜厚儀服務(wù)天瑞儀器公司專業(yè)生產(chǎn)膜厚儀X-ray檢測(cè)儀解決電鍍銅鎳厚度測(cè)試。天瑞儀器是金屬鍍層測(cè)厚儀三之一，另外兩個(gè)品牌分部是費(fèi)希爾和牛津。天瑞的thick800a滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求，φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求，高精度平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度，定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊，鼠標(biāo)可控制平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)，高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。

良好的射線屏蔽作用，測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。Thick800A是基于X射線熒光無損分析原理的快速鍍層測(cè)驗(yàn)，是上招式設(shè)計(jì)的，自帶三維平臺(tái)，XYZ可定點(diǎn)，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)。這款功能強(qiáng)大的儀器，配上天瑞儀器專門為其開發(fā)的鍍層測(cè)厚軟件，在鍍層檢測(cè)中可謂大展身手。
產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖：

技術(shù)指標(biāo)
1、儀器尺寸：
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊測(cè)試時(shí)，可開蓋，對(duì)樣品長度無限制
檢測(cè)開槽口時(shí)，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。
樣品臺(tái)尺寸：230(W)×210(D)mm
范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
Z軸升降平臺(tái)升降范圍：0-140mm
2、儀器重量：90kg
3、SDD半導(dǎo)體探測(cè)器：
探測(cè)器輸入電壓：±12V，+5V
探頭窗口面積：25mm-2---
探頭窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃
4、X射線光管：
管壓：5-50kV
管流：0-1
材：W
窗口：鈹窗
制冷方式：風(fēng)冷
工作溫度：≤75℃
5、高壓發(fā)生器：
輸入電壓：24V
輸入電流：5A
管壓：0-50kV
管流：0-2
燈絲電壓：5V
燈絲電流：3.5A
6、MCA多道分析器：
輸入電壓：±12V，+5V
采樣頻率：100 KHZ
脈沖幅度：0-7.6V
A/D位數(shù)：12位
分析道數(shù)：2048道
7、準(zhǔn)直器系統(tǒng)：
準(zhǔn)直器：?0.1 mm(可根據(jù)要求選配)
濾光片：Mo(可根據(jù)要求選配)
8、高清晰攝像頭：
傳感器類型：CCD（彩色）
接口：U2.0
傳感器廠商：索尼
快門類型：面陣
光學(xué)尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感應(yīng)度：0.58V（索尼標(biāo)準(zhǔn)）
顏色排列：RGB
幀率：30fps
快門速度：1/1538-1/30（秒）
9、自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)：
通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器
實(shí)現(xiàn)樣品高度的自動(dòng)對(duì)焦。

應(yīng)用領(lǐng)域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
產(chǎn)品輻射報(bào)告：

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè)，注冊(cè)資本46176萬。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術(shù)開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質(zhì)譜儀器儀表有限公司、江蘇國測(cè)檢測(cè)技術(shù)有限公司、上海磐合科學(xué)儀器股份有限

售后服務(wù)：
公司本著“客戶至上、高效快捷、誠信務(wù)實(shí)、價(jià)格合理"的經(jīng)營合作理念,為您提供快速優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。產(chǎn)品送貨，培訓(xùn)安裝，耗材配件，實(shí)驗(yàn)室打包解決方案。
專業(yè)的400售后維修，7*24小時(shí)在線，4小時(shí)響應(yīng)，24小時(shí)。

X射線鍍層測(cè)厚儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及平臺(tái)。是功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測(cè)試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。 2011年1月25日，天瑞儀器在深圳創(chuàng)業(yè)板塊上市。代碼為300165。分析儀器行業(yè)的家也是目前一家上市公司，公司現(xiàn)有員工1100人，包括研發(fā)部、技術(shù)部、生產(chǎn)部、國內(nèi)業(yè)務(wù)部及海外市場(chǎng)部、品管部、計(jì)劃部、采購部、倉管部、人力資源部、財(cái)務(wù)部、及董秘處和行政部等部門，且公司規(guī)模日益壯大。公司擁有國際的X熒光分析技術(shù)領(lǐng)域的專家隊(duì)伍，具有雄厚的資金勢(shì)力、的技術(shù)水平、服務(wù)標(biāo)準(zhǔn)和先進(jìn)的管理模式。同時(shí)，公司與國內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域的專業(yè)研究院所和企業(yè)保持著密切的合作關(guān)系，實(shí)時(shí)追蹤國際X熒光分析領(lǐng)域*的理論和技術(shù)。目前公司已被授予“民營科技企業(yè)”、“江蘇省高新技術(shù)企業(yè)”、“蘇州市分析儀器工程技術(shù)研究中心”、 “江蘇省昆山市企業(yè)技術(shù)中心”、“江蘇省昆山市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)所RoHS檢測(cè)二室”等稱，營銷力的ROHS檢測(cè)儀器生產(chǎn)廠家。

公司的售后服務(wù)體系分為：售后服務(wù)片區(qū)（劃分）、客服和技術(shù)引導(dǎo)與維護(hù)。服務(wù)片區(qū)劃分已經(jīng)完全覆蓋全國主要省市，主要根據(jù)客戶的分布和公司業(yè)務(wù)區(qū)域的劃分，把大陸劃分12個(gè)工作區(qū)域， 包括：廣州、佛山、湖北片區(qū)，廈門片區(qū)，珠海、中山、云貴川片區(qū)， 北京、天津、河南、河北片區(qū)， 山東片區(qū)，蘇州、安徽、上海片區(qū)，惠州、汕頭、福建片區(qū)，深圳、東莞片區(qū)，浙江片區(qū)、山西、陜西西北片區(qū)，青海片區(qū)、東北三省片區(qū)。另外，除大陸以外片區(qū)中國香港、及海外片區(qū)。公司通過電話等遠(yuǎn)程維護(hù)、、返廠維修以及對(duì)客戶使用人員的技術(shù)培訓(xùn)來實(shí)現(xiàn)技術(shù)的應(yīng)到和維護(hù)。

公司的X熒光檢測(cè)技術(shù)具有快速、、無損的特點(diǎn)。X熒光分析儀可以應(yīng)用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領(lǐng)域，如：電子電器（RoHS檢測(cè)）、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
e曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
f試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，歐譜因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
h附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
i測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。a基體金屬特性
對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
c邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
e讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f表面清潔度
測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)

電鍍簡單的說就是將接受電鍍的部件浸于含有被沉積金屬化合物的水溶液中,以電流通過鍍液,使電鍍金屬析出并沉積在部件上。因?yàn)橛猛竞筒牧喜煌话愕碾婂冇绣冧\、鍍金、鍍銀、鍍鉻、鍍錫、鍍鎳和鍍銅鎳合金等，根據(jù)需要鍍層又分為一層、二層和多層電鍍等。從技術(shù)方便來話，電鍍的鍍層不僅僅要平整還要均勻，而對(duì)電鍍的鍍層厚度要求也要，比如電鍍金，鍍的太厚，電鍍廠家的成本就要增加，而鍍的薄了，又可能滿足不了客戶的需求，所以電鍍的膜厚測(cè)量也是電鍍技術(shù)能力和成本的一個(gè)重要指標(biāo)。
專業(yè)提供電鍍鍍層膜厚儀Thick 800A，解決客戶鍍層膜厚測(cè)量的難題

利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。針對(duì)檢測(cè)樣本的不同種類，可在下列3種型中進(jìn)行選擇。測(cè)量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、超薄薄膜的型，能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型，適合對(duì)陶瓷芯片電極部分中，過去難以同時(shí)測(cè)量的Sn/Ni兩層進(jìn)行高能測(cè)量的型。


兼顧易操作性與安全性
放大了開口，同時(shí)樣本室的門也可單手輕松開閉。從而提高了取出、放入檢測(cè)樣本的操作簡便性，并且該密封結(jié)構(gòu)也大大減少了X射線泄漏的風(fēng)險(xiǎn)，讓用戶放心使用。

檢測(cè)部位可見
通過設(shè)置大型觀察窗、修改部件布局，使得樣本室門在關(guān)閉狀態(tài)下亦可方便地觀察檢測(cè)部位。

清晰的樣本圖像
使用了分辨率比以往更高的樣本觀察攝像頭，采用全數(shù)碼變焦，從而消除位置偏差，可以清晰地觀察數(shù)十μm的微小樣本。
另外，亦采用LED作為樣本觀察燈，無需像以往的機(jī)型那樣對(duì)燈泡進(jìn)行更換。
電鍍層膜厚儀Thick800A:

測(cè)量元素：原子序數(shù)13（Al）～92（U）
X射線源：管電壓：45 kV
FT：Mo FTh：W FTL：Mo
檢測(cè)器：Si半導(dǎo)體檢測(cè)器（SDD）（無需液氮）
型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
采用非真空樣品腔；專業(yè)用于PCB鍍層厚度，金屬電鍍鍍層分析；可同時(shí)分析鍍層中的合金成分比列；多鍍層，1～5層；

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