發(fā)射光譜分析是根據(jù)被測原子或分子在激發(fā)狀態(tài)下發(fā)射的特征光譜的強度計算其含量。

光譜分析儀是一種用于測量發(fā)光體的輻射光譜，即發(fā)光體本身的指標參數(shù)的儀器。廣泛應用于科研、教學、工業(yè)等多領域。CNI提供、、軟件分析等產(chǎn)品。
光譜分析儀的優(yōu)點：
1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。
2.測試速率高，可設定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出。
3.對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測。
4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析，從而達到快速檢測。
5.分析結果的準確性是建立在化學分析標樣的基礎上。
光譜分析儀的缺點：
1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準確檢測。
2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能做為認證依據(jù)。
3.受各企業(yè)產(chǎn)品相對壟斷的因素，購買和維護成本都比較高，性價比較低。
4.需要大量代表性樣品進行化學分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實際。
5.模型需要不斷更新，在儀器發(fā)生變化或者標準樣品發(fā)生變化時，模型也要變化。
6.建模成本很高，素分析儀測試成本也就比較大了，當然對于大量樣品檢測時，測試成本會下降。
7.易受光學系統(tǒng)參數(shù)等外部或內部因素影響，經(jīng)常出現(xiàn)曲線非線性問題，對檢測結果的準確度影響較大。

如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級之間的能級差E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應的激發(fā)態(tài)。原來提供能量的光經(jīng)分光后譜線中缺少了一些特征光譜線，因而產(chǎn)生原子吸收光譜。

光學多道OMA（OpTIcal MulTI-channel Analyzer）是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測器（CCD）和計算機控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。由于OMA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統(tǒng)的光譜技術發(fā)生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率：使用OMA分析光譜，測盆準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中，特別適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測。

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