光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測元素的含量。


任何元素的原子都是由原子核和繞核運(yùn)動(dòng)的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級(jí)，因此，一個(gè)原子核可以具有多種能級(jí)狀態(tài)。能量低的能級(jí)狀態(tài)稱為基態(tài)能級(jí)（E0=0），其余能級(jí)稱為激發(fā)態(tài)能級(jí)，而能低的激發(fā)態(tài)則稱為激發(fā)態(tài)。正常情況下，原子處于基態(tài)，核外電子在各自能量低的軌道上運(yùn)動(dòng)。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級(jí)之間的能級(jí)差E時(shí)，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài)，而產(chǎn)生原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級(jí)以后處于激發(fā)態(tài)，但激發(fā)態(tài)電子是不穩(wěn)定的，大約經(jīng)過10^-8秒以后，激發(fā)態(tài)電子將返回基態(tài)或其它較低能級(jí)，并將電子躍遷時(shí)所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個(gè)過程稱原子發(fā)射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發(fā)射光譜過程則釋放輻射能量。
光譜分析就是從識(shí)別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強(qiáng)度又與試樣中該元素的含量有關(guān)，因此又可利用這些譜線的強(qiáng)度來測定元素的含量(定量分析)。這就是發(fā)射光譜分析的基本依據(jù)。

任何元素的原子都是由原子核和繞核運(yùn)動(dòng)的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級(jí)，因此，一個(gè)原子核可以具有多種能級(jí)狀態(tài)。

1.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)
光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)采用世界先進(jìn)的全息平場凹面衍射光柵和高性能帶電子快門控制技術(shù)的線性CCD陣列探測器組成。并采用控制雜散光技術(shù)、精密陣列探測器電子驅(qū)動(dòng)技術(shù)和寬動(dòng)態(tài)線性技術(shù)，整個(gè)系統(tǒng)達(dá)到雜散低、動(dòng)態(tài)范圍寬、毫秒級(jí)的測試速度及傳統(tǒng)機(jī)械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)組成

CMS光譜分析儀（輻射計(jì)）、積分球、精密交直流電源、校準(zhǔn)定標(biāo)系統(tǒng)及其他高精度儀器等組成。
3.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)參考標(biāo)準(zhǔn)（LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數(shù)測量部分標(biāo)準(zhǔn)）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)測量參數(shù)：

色品坐標(biāo)（x,y）、相關(guān)色溫、光通量、光效、能效指數(shù)（EEI）、能效等級(jí)、顯色指數(shù)、顏色質(zhì)量量表、色品坐標(biāo)（u,v）、色品坐標(biāo)（u`,v`）、主波長、色純度、峰值半寬度、色比、光輻射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺光通量、中間視覺光通量及電參數(shù)等參數(shù)。

直讀光譜儀OES6000采用CCD檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES6000專注于有色金屬測試，是有色金屬材料元素測試的理想儀器。
全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補(bǔ)充配置
儀器體積小巧，對實(shí)驗(yàn)室空間要求低
全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測試速度快，單次測試過程少于30秒
儀器使用和維護(hù)簡單、方便，對人員專業(yè)要求低
原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)，適用合齊全
配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對儀器進(jìn)行周期性校正
不使用化學(xué)試劑，測試過程安全、環(huán)保

技術(shù)性能及參數(shù)

1.分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)
恒溫控制（34℃±0.5℃）
特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600 l/mm
一級(jí)光譜線色散率：1.2 nm/mm
波長范圍200-500nm
3.檢測器
高性能線陣CCD
4.分析時(shí)間
依樣品種類而不同，一般少于30秒
5.激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發(fā)臺(tái)
4mm樣品臺(tái)分析間隙
噴射電極技術(shù)
無待機(jī)流量，低氬氣消耗
7.尺寸和重量
高300mm 長 500mm 寬 450mm
30 kg
8.功率
功率700 W
待機(jī)功率40 W

工作條件

工作溫度：15-30℃
相對濕度：≤70
電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實(shí)驗(yàn)室無震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

輔助設(shè)備

高純氬氣——純度99.999以上
交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA
光譜磨樣機(jī)——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
空調(diào)——依實(shí)驗(yàn)室面積配置匹配功率

技術(shù)優(yōu)勢

無需抽真空的光室
直讀光譜儀OES6000采用空氣光室設(shè)計(jì)，剔除真空泵。光室完全無油污污染源，儀器性能更穩(wěn)定；維護(hù)更方便，無真空泵運(yùn)行消耗電力。
全譜檢測全面測試各種金屬和元素
基于CCD檢測器全譜測試技術(shù)，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測試。
配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測試元素、分析程序。
專業(yè)的測試方案
長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。
測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。
分析程序由原廠采用國際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
國際供應(yīng)商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國Zeiss制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測器——光電倍增管由日本Toshiba制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲
光學(xué)鏡片——德國Zeiss制造，光纖——美國Agilent制造
的光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。
由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。同時(shí)光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定。

應(yīng)用領(lǐng)域

金屬材料元素含量測試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機(jī)械行業(yè)的研發(fā)、生產(chǎn)控制、質(zhì)量檢驗(yàn)等相關(guān)工作的傳統(tǒng)測試項(xiàng)目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩(wěn)定、同時(shí)測試幾十種分析元素, 滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀測試金屬材料元素含量便捷、環(huán)保、低成本，使研發(fā)、生產(chǎn)的過程和質(zhì)量更可控，幫助用戶提升產(chǎn)品的技術(shù)、質(zhì)量水平；同時(shí)加速相關(guān)流程，為用戶創(chuàng)造明顯的經(jīng)濟(jì)效益和環(huán)保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業(yè)技術(shù)和質(zhì)量水平的標(biāo)志性設(shè)備。

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