技術(shù)性能及指標(biāo)

1. 分光室設(shè)計(jì)

帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑400mm

波長范圍140 – 680nm

像素分辨率10pm

恒溫33℃±0.2℃

特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小

間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運(yùn)行時(shí)間小于5

2. 凹面光柵

刻線密度3600l/mm

一級(jí)光譜線色散率：1.04 nm/mm

3. 檢測(cè)器

高性能線陣CMOS

4. 分析時(shí)間

依樣品種類而不同，一般少于40秒

5. 激發(fā)光源

全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)

高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)

頻率100-1000Hz

電流1-80A

6. 激發(fā)臺(tái)

3mm樣品臺(tái)分析間隙

噴射電極技術(shù)

特殊設(shè)計(jì)的氣路系統(tǒng)，保證氬氣消耗

7. 尺寸和重量

高450mm 長900mm 寬600 mm

120 kg

8. 功率

功率0W

待機(jī)功率70W

直讀光譜儀OES1000采用光電倍增管（PMT）技術(shù)和獨(dú)特光路設(shè)計(jì)使其具有優(yōu)異性能，尤其對(duì)真空紫外譜線（涉及C、P、S、B、Sn等元素）、常量和痕量含量元素的檢測(cè)有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)，是追求高性能測(cè)試用戶的。
全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測(cè)試速度快，單次測(cè)試過程少于40秒
軟件可對(duì)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)判定牌
儀器使用和維護(hù)簡單、方便，對(duì)人員專業(yè)要求低
原廠安裝分析程序，測(cè)試數(shù)據(jù)，適用合齊全
配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正
不使用化學(xué)試劑，測(cè)試過程安全、環(huán)保

技術(shù)性能及參數(shù)

1.分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格裝置，1米焦距
根據(jù)測(cè)試需求分為真空型（真空度≤a）、空氣型兩種
恒溫控制（32℃±0.1℃）
特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
2.多安裝通道 32
3.凹面光柵
刻線密度2160gr/mm
曲率半徑998.8mm
逆線色散率0.47nm/mm
波長范圍170-463nm
4.狹縫寬度
入射狹縫20μm，
出射狹縫為整體狹縫，寬度為35-75μm
5.光電倍增管
10級(jí)側(cè)窗型，熔融石英或玻璃外殼；
6.分析時(shí)間
依樣品種類而不同，一般少于40秒
7.激發(fā)光源
高能預(yù)火花光源（HEPS），放電頻率100-900Hz，電極間距3-4mm
8.測(cè)光方式
采用光電倍增管檢測(cè)器測(cè)光，光電倍增管負(fù)高壓連續(xù)可調(diào)，傳統(tǒng)的分段積分法
9.控制系統(tǒng)
采用FPGA技術(shù)控制整個(gè)儀器的工作狀態(tài)
10.尺寸和重量
尺寸：1680(長)×1020(寬)×1(高)mm
重量：約500kg

應(yīng)用領(lǐng)域

金屬材料元素含量測(cè)試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機(jī)械行業(yè)的研發(fā)、生產(chǎn)控制、質(zhì)量檢驗(yàn)等相關(guān)工作的傳統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩(wěn)定、同時(shí)測(cè)試幾十種元素, 測(cè)試過程便捷、環(huán)保、低成本，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀的快速測(cè)試使研發(fā)、生產(chǎn)過程和質(zhì)量更可控，幫助用戶提升產(chǎn)品的技術(shù)、質(zhì)量水平；使相關(guān)流程加快，為用戶創(chuàng)造明顯的經(jīng)濟(jì)效益和環(huán)保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業(yè)技術(shù)和質(zhì)量水平的標(biāo)志性設(shè)備。

發(fā)射光譜分析是根據(jù)被測(cè)原子或分子在激發(fā)狀態(tài)下發(fā)射的特征光譜的強(qiáng)度計(jì)算其含量。

該款光譜儀操作簡單、維護(hù)方便，利用衍射光柵對(duì)光譜進(jìn)行測(cè)量，波長范圍覆蓋600～1700nm，波長分辨率在0.02～2.0nm之間，小接收靈敏度為-90dBm，并可依靠橫河特有技術(shù)在0.2秒內(nèi)完成對(duì)100nm的掃描。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
對(duì)目前一些新的測(cè)試需要增加以下測(cè)量分析功能：
1.數(shù)據(jù)日志功能
對(duì)WDM、DFB-LD、標(biāo)記等多種數(shù)據(jù)的分析按照預(yù)設(shè)的時(shí)間進(jìn)行掃描，記錄相關(guān)分析結(jié)果的變化以及各個(gè)時(shí)間點(diǎn)的光譜。
2.門控采樣功能
在仿真超長距離傳輸?shù)沫h(huán)路實(shí)驗(yàn)中，接收實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的門控，對(duì)特定的光譜進(jìn)行掃描測(cè)量。
3.分辨率校正功能
利用窄線寬光源對(duì)OSA的分辨進(jìn)行校正，改善對(duì)寬譜光源功率密度測(cè)試的精度。
4.標(biāo)記功能
優(yōu)化以前標(biāo)記點(diǎn)的功率讀取功能，可以直接對(duì)標(biāo)記點(diǎn)為中心的*波長范圍內(nèi)的積分功率進(jìn)行讀取，應(yīng)用于各類OSNR的測(cè)量分析。

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