根據物質的光譜來鑒別物質及確定它的化學組成和相對含量的方法叫光譜分析。其優點是靈敏，迅速。歷史上曾通過光譜分析發現了許多新元素，如銣，銫，氦等。根據分析原理光譜分析可分為發射光譜分析與吸收光譜分析二種；根據被測成分的形態可分為原子光譜分析與分子光譜分析。光譜分析的被測成分是原子的稱為原子光譜，被測成分是分子的則稱為分子光譜。

采用CMOS檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES8000s是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優選擇。

全譜分析技術，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現場補充配置

儀器體積小巧，對實驗室空間要求低

全天候工作，具有優異的穩定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護簡單、方便，對人員專業要求低

原廠安裝分析程序，測試數據，適用合齊全

配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正

不使用化學試劑，測試過程安全、環保



技術優勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產品元素分析，快速、、穩定、可靠測試幾十種元素，滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面檢驗需求，是生產優質金屬產品的*設備。

全譜檢測全面測試各種金屬和元素

基于CCD檢測器全譜測試技術，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現多基體、多元素的測試。

配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。



國際供應商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優異的光譜分辨能力

光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲



光室恒溫系統

光室恒溫腔體內配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效保證光室內恒溫。

由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。除特殊維護，平時保養一般不需進行描跡。

同時檢測器工作在恒溫環境有助于光電轉換性能的穩定。



快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內呈現測試結果。

可根據客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。



專業的測試方案

長期測試技術服務的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、標準樣品校準，經專業儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。



工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70

電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體

光譜分析儀是一種用于測量發光體的輻射光譜，即發光體本身的指標參數的儀器。廣泛應用于科研、教學、工業等多領域。CNI提供、、軟件分析等產品。
光譜分析儀的優點：
1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節約取樣帶來的損耗。
2.測試速率高，可設定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出。
3.對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測。
4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現場分析，從而達到快速檢測。
5.分析結果的準確性是建立在化學分析標樣的基礎上。
光譜分析儀的缺點：
1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準確檢測。
2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能做為認證依據。
3.受各企業產品相對壟斷的因素，購買和維護成本都比較高，性價比較低。
4.需要大量代表性樣品進行化學分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實際。
5.模型需要不斷更新，在儀器發生變化或者標準樣品發生變化時，模型也要變化。
6.建模成本很高，素分析儀測試成本也就比較大了，當然對于大量樣品檢測時，測試成本會下降。
7.易受光學系統參數等外部或內部因素影響，經常出現曲線非線性問題，對檢測結果的準確度影響較大。

任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態。

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