膜厚儀主要性能優勢：
采用極速探測器技術；
探測信噪比更強，檢出限更低；
采用大功率X光管及先進的數字多道技術；
光閘系統，提高測試效率與測試精度；
精密的定位系統，更清晰的顯示測試點；
多點測試，多點連續測試超小樣品檢測；
人性化的設計：更安全、更快捷：預約預熱：預約關機。
X射線膜厚儀器產品介紹
X射線膜厚儀器服務江蘇天瑞儀器股份有限公司專業生產X射線莫厚儀器。Thick800A能夠在幾十秒的時間實現金屬電鍍層的厚度檢測，比傳統的電解式測厚儀具有更好的測試效率和分析精度，目前已經成為電鍍加工企業，首飾加工行業，PCB電路板工業，五金件加工，緊固件表面，汽車部件廠家，通信連接件等生產企業，解決膜厚測試的標準分析方法。
X射線膜厚儀圖片：
技術指標：
X射線光管：
管壓：5-50kV
管流：0-1
材：W
窗口：鈹窗
制冷方式：風冷
工作溫度：≤75℃
高壓發生器：
輸入電壓：24V
輸入電流：5A
管壓：0-50kV
管流：0-2
燈絲電壓：5V
燈絲電流：3.5A
SDD半導體探測器：
探測器輸入電壓：±12V，+5V
探頭窗口面積：25mm 2
探頭窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探頭內制冷溫度：<-40℃
自動對焦系統：
通用數字激光傳感器、CMOS激光傳感器
實現樣品高度的自動對焦。
MCA多道分析器：
輸入電壓：±12V，+5V
采樣頻率：100 KHZ
脈沖幅度：0-7.6V
A/D位數：12位
分析道數：2048道
準直器系統：
準直器：Ø0.1 mm(可根據要求選配)
濾光片：Mo(可根據要求選配)
高清晰攝像頭：
傳感器類型：CCD（彩色）
接口：U2.0
傳感器廠商：索尼
快門類型：面陣
光學尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感應度：0.58V（索尼標準）
顏色排列：RGB
幀率：30fps
快門速度：1/1538-1/30（秒）
儀器尺寸：
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制
檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。
樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm
范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm
X射線膜厚儀能滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求，φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求。高精度平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。鼠標可控制平臺，鼠標點擊的位置就是被測點。高分辨率探頭使分析結果更加。良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產能量色散X射線膜厚儀的高科技公司，成立于1992年，是國內在創業板上市的家高科技分析儀器公司。主營產品X射線膜厚儀thick800a曾于2011年榮獲科學儀器產品獎， 產品符合計量合格要求。提供完善的售后服務：
1，所出售本合同所規定的儀器進行終身維修，免費提供升級軟件。
2，提供有效的技術服務，在接到用戶故障信息后，4小時內響應；如有必要，12～72個小時內派人維修和排除故障。
3，負責培訓操作人員，培訓內容為儀器分析原理、結構、操作、維護保養、簡單維修、軟件使用、方法建立、樣品測試等。
膜厚儀磁感應測量原理
采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該放大后來指示覆層厚度。一些電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量。還采用專利設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1，量程達10mm。
磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐涂層。
膜厚儀的使用
測定準備
（1）確保電池正負極方向正確無誤后設定。
（2）探頭的選擇和設定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象，在本體上進行設定。
測定方法
（1）探頭的選擇和安裝方法：確認電源處于OFF狀態，與測定對象的質地材質接觸，安裝LEP-J或LHP-J。
（2）調整：確認測定對象已經被調整。未調整時要進行調整。
（3）測定：在探頭的末端加一定的負荷，即使用[一點接觸定壓式]。抓住與
測定部接近的部分，迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定，每次都
要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續測定平面時，如果采用探頭適配器，可以更加穩定地進行測定。
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