X射線膜厚儀，涂鍍層測厚介紹
X射線膜厚儀，涂鍍層測厚服務電話江蘇天瑞儀器股份有限公司專業生產X射線膜厚儀，涂鍍層測厚解決厚度測試。性能特點
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，鼠標可控制平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，良好的射線屏蔽作用，技術指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
分析含量一般為ppm到99.9 。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
多變量非線性回收程序
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
標準配置
精密二維樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維。
鉛玻璃屏蔽罩。
檢測電子電路。
X光管。
保護傳感器
應用領域
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
<n font-size:14px;color:#414141;line-height:22px;background-color:#ffffff;"="">主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本46176萬。旗下擁有蘇州天瑞環境科技有限公司、北京邦鑫偉業技術開發有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質譜儀器儀表有限公司、江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限

售后服務：
公司本著“客戶至上、高效快捷、誠信務實、價格合理"的經營合作理念,為您提供快速優質的技術服務。產品送貨，培訓安裝，耗材配件，實驗室打包解決方案。
專業的400售后維修，7*24小時在線，4小時響應，24小時。

膜厚儀磁感應測量原理
采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該放大后來指示覆層厚度。一些電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量。還采用專利設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1，量程達10mm。
磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐涂層。

膜厚儀電渦流測量原理
高頻交流在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，的頻率不同，的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1，量程10mm的高水平。
采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

膜厚儀的使用
測定準備
（1）確保電池正負極方向正確無誤后設定。
（2）探頭的選擇和設定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象，在本體上進行設定。
測定方法
（1）探頭的選擇和安裝方法：確認電源處于OFF狀態，與測定對象的質地材質接觸，安裝LEP-J或LHP-J。
（2）調整：確認測定對象已經被調整。未調整時要進行調整。
（3）測定：在探頭的末端加一定的負荷，即使用[一點接觸定壓式]。抓住與
測定部接近的部分，迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定，每次都
要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續測定平面時，如果采用探頭適配器，可以更加穩定地進行測定。
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