每一條所發(fā)射的譜線的波長，取決于躍遷前后兩個能級之差。由于原子的能級很多，原子在被激發(fā)后，其外層電子可有不同的躍遷，但這些躍遷應遵循一定的規(guī)則（即“光譜選律”），因此對特定元素的原子可產生一系列不同波長的特征光譜線，這些譜線按一定的順序排列，并保持一定的強度比例。光譜分析就是從識別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在（定性分析），而這些光譜線的強度又與試樣中該元素的含量有關，因此又可利用這些譜線的強度來測定元素的含量（定量分析）。這就是發(fā)射光譜分析的基本依據。

直讀光譜儀OES1000采用光電倍增管（PMT）技術和獨特光路設計使其具有優(yōu)能，尤其對真空紫外譜線（涉及C、P、S、B、Sn等元素）、常量和痕量含量元素的檢測有獨特優(yōu)勢，是追求高性能測試用戶的。
全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒
軟件可對測試結果自動判定牌
儀器使用和維護簡單、方便，對人員要求低
原廠安裝分析程序，測試數據，適用合齊全
配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正
不使用化學試劑，測試過程安全、環(huán)保

技術性能及參數

1.分光室設計
帕邢-龍格裝置，1米焦距
根據測試需求分為真空型（真空度≤a）、空氣型兩種
恒溫控制（32℃±0.1℃）
材質鑄造，保證光室形變小
2.多安裝通道 32
3.凹面光柵
刻線密度2160gr/mm
曲率半徑998.8mm
逆線色散率0.47nm/mm
波長范圍170-463nm
4.狹縫寬度
入射狹縫20μm，
出射狹縫為整體狹縫，寬度為35-75μm
5.光電倍增管
10級側窗型，熔融石英或玻璃外殼；
6.分析時間
依樣品種類而不同，一般少于40秒
7.激發(fā)光源
高能預火花光源（HEPS），放電頻率100-900Hz，電極間距3-4mm
8.測光方式
采用光電倍增管檢測器測光，光電倍增管負高壓連續(xù)可調，傳統(tǒng)的分段積分法
9.控制系統(tǒng)
采用FPGA技術控制整個儀器的工作狀態(tài)
10.尺寸和重量
尺寸：1680(長)×1020(寬)×1(高)mm
重量：約500kg

應用領域

金屬材料元素含量測試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機械行業(yè)的研發(fā)、生產控制、質量檢驗等相關工作的傳統(tǒng)測試項目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩(wěn)定、同時測試幾十種元素, 測試過程便捷、環(huán)保、低成本，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進料檢驗、產品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀的快速測試使研發(fā)、生產過程和質量更可控，幫助用戶提升產品的技術、質量水平；使相關流程加快，為用戶創(chuàng)造明顯的經濟效益和環(huán)保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業(yè)技術和質量水平的標志性設備。

根據物質的光譜來鑒別物質及確定它的化學組成和相對含量的方法叫光譜分析。其優(yōu)點是靈敏，迅速。歷史上曾通過光譜分析發(fā)現了許多新元素，如銣，銫，氦等。根據分析原理光譜分析可分為發(fā)射光譜分析與吸收光譜分析二種；根據被測成分的形態(tài)可分為原子光譜分析與分子光譜分析。光譜分析的被測成分是原子的稱為原子光譜，被測成分是分子的則稱為分子光譜。

光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進而求得樣品中待測元素的含量。


任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態(tài)。能量低的能級狀態(tài)稱為基態(tài)能級（E0=0），其余能級稱為激發(fā)態(tài)能級，而能低的激發(fā)態(tài)則稱為激發(fā)態(tài)。正常情況下，原子處于基態(tài)，核外電子在各自能量低的軌道上運動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級之間的能級差E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應的激發(fā)態(tài)，而產生原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級以后處于激發(fā)態(tài)，但激發(fā)態(tài)電子是不穩(wěn)定的，大約經過10^-8秒以后，激發(fā)態(tài)電子將返回基態(tài)或其它較低能級，并將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程稱原子發(fā)射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發(fā)射光譜過程則釋放輻射能量。
光譜分析就是從識別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度又與試樣中該元素的含量有關，因此又可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。這就是發(fā)射光譜分析的基本依據。
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