光譜儀，又稱分光儀，廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。其構造由一個入射狹縫，散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域，并在選定的波長上（或掃描某一波段）進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。

每一條所發射的譜線的波長，取決于躍遷前后兩個能級之差。由于原子的能級很多，原子在被激發后，其外層電子可有不同的躍遷，但這些躍遷應遵循一定的規則（即“光譜選律”），因此對特定元素的原子可產生一系列不同波長的特征光譜線，這些譜線按一定的順序排列，并保持一定的強度比例。光譜分析就是從識別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在（定性分析），而這些光譜線的強度又與試樣中該元素的含量有關，因此又可利用這些譜線的強度來測定元素的含量（定量分析）。這就是發射光譜分析的基本依據。

該款光譜儀操作簡單、維護方便，利用衍射光柵對光譜進行測量，波長范圍覆蓋600～1700nm，波長分辨率在0.02～2.0nm之間，小接收靈敏度為-90dBm，并可依靠橫河特有技術在0.2秒內完成對100nm的掃描。
產品特點：
對目前一些新的測試需要增加以下測量分析功能：
1.數據日志功能
對WDM、DFB-LD、標記等多種數據的分析按照預設的時間進行掃描，記錄相關分析結果的變化以及各個時間點的光譜。
2.門控采樣功能
在仿真超長距離傳輸的環路實驗中，接收實驗系統的門控，對特定的光譜進行掃描測量。
3.分辨率校正功能
利用窄線寬光源對OSA的分辨進行校正，改善對寬譜光源功率密度測試的精度。
4.標記功能
優化以前標記點的功率讀取功能，可以直接對標記點為中心的波長范圍內的積分功率進行讀取，應用于各類OSNR的測量分析。

采用CMOS檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES8000s是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優選擇。

全譜分析技術，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現場補充配置

儀器體積小巧，對實驗室空間要求低

全天候工作，具有優異的穩定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護簡單、方便，對人員要求低

原廠安裝分析程序，測試數據，適用合齊全

配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正

不使用化學試劑，測試過程安全、環保

 

技術優勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產品元素分析，快速、、穩定、可靠測試幾十種元素，滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面檢驗需求，是生產金屬產品的*設備。

全譜檢測全面測試各種金屬和元素

基于CCD檢測器全譜測試技術，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現多基體、多元素的測試。

配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。

 

國際供應商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優異的光譜分辨能力

光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲

 

光室恒溫系統

光室恒溫腔體內配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內恒溫。

由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。除維護，平時保養一般不需進行描跡。

同時檢測器工作在恒溫環境有助于光電轉換性能的穩定。

 

快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內呈現測試結果。

可根據客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。

 

的測試方案

長期測試技術服務的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、標準樣品校準，經儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。

 

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70

電    源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體
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