測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
為了更好的服務客戶，保障用戶儀器的良好性能。2021年3月19日，由江蘇天瑞儀器股份有限公司（以下簡稱天瑞儀器）舉辦的客戶培訓會議在浙江省寧波市陽光豪生大酒店舉行。
      本次培訓會采用理論知識與現場實際操作相結合的形式，旨在提高用戶對天瑞儀器產品應用操作及后期運維的能力，讓大家在實際操作中得心應手。來自浙江地區的近百位用戶積極參加。現場進行培訓的儀器有EDX1800B能量色散X熒光光譜儀、THICK800A X熒光鍍層測厚儀、GCMS6800氣相色譜質譜聯用儀、LC310液相色譜系統、OES8000S直讀光譜儀以及環境試驗箱操作培訓。
根據客戶實際需求，培訓節奏緊湊且具針對性，天瑞儀器技術們通過精心授課，現場操作教習，為參會人員提供了的學習機會，使其能夠正確、的使用儀器。

為了進一步促進推進我國有色金屬化學元素分析檢測技術進展與產業升級，促進應用范圍的不斷加深與擴大，切實解決當前本領域內關注的熱點、焦點和難點問題；3月29日—3月31日，由中冶有色技術平臺、中冶有色技術網主辦，江蘇天瑞儀器股份有限公司（以下簡稱天瑞儀器）協辦的“有色金屬化學元素分析檢測技術交流會”（以下簡稱交流會）在昆山成功舉行。

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
測量注意事項：
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。

鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量而精心設計的新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

2、性能優勢

精密的三維平臺
的樣品觀測系統
的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果

3、技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1
穩定性：可達0.1
SDD探測器：分辨率低至eV
采用的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90
操作環境溫度 15℃～30℃
2013年，天瑞儀器控股廈門質譜。
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