光電直讀光譜儀OES8000s采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實驗室放置。OES8000s是測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的較優(yōu)選擇。全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補充配置。儀器體積小巧，對實驗室空間要求低。工作時間長，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性。樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒。儀器使用和維護(hù)簡單、方便，對人員專業(yè)要求低。原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，適用合金牌號齊全。配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對儀器進(jìn)行周期性校正。不使用化學(xué)試劑，測試過程安全、環(huán)保。

直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、準(zhǔn)確、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗、產(chǎn)品分選多方面檢驗需求，是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的設(shè)備。全譜檢測測試各種金屬和元素。基于CMOS檢測器全譜測試技術(shù)，測試各種金屬中元素的譜線，方便實現(xiàn)多基體、多元素的測試。配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。

技術(shù)性能及指標(biāo)

1.   分光室設(shè)計

  帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑400mm

  波長范圍140 – 680nm

  像素分辨率10pm

  恒溫33℃±0.2℃

  特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小

  間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運行時間小于5

2.   凹面光柵

  刻線密度3600l/mm

  光譜線色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測器

  高性能線陣CMOS

4.   分析時間

  依樣品種類而不同，一般少于40秒

5.   激發(fā)光源

  全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)

  高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)

  頻率100-1000Hz

  電流1-80A

6.   激發(fā)臺

  3mm樣品臺分析間隙

  噴射電極技術(shù)

  特殊設(shè)計的氣路系統(tǒng)，保證低氬氣消耗

7.   尺寸和重量

  高450mm 長900mm 寬600 mm

  120 kg

8.   功率

  大功率1500W

  待機功率70W