ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
EDX5600是國內(nèi)應(yīng)用多的一款設(shè)備，除了較高的性價比外，其更人性化的設(shè)計軟硬件，使其在電子電器，通訊制造，家電配件，塑膠，五金等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，采用新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應(yīng)用上屬于通用型ROHS檢測儀器。
技術(shù)參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U） 可以測量包括ROHS鹵素元素外的70多種元素。
有ROHS分析軟件，只針對ROHS六項測試和鹵素元素測試的窗口。一健式操作。
測試時間可人為設(shè)置，可短或長。一般測量時間：60S-200S
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm 檢出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就檢不出來。含量范圍：1ppm～99.9穩(wěn)定性：0.01 管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：半導(dǎo)體電子制冷探測器，分辨率可達165eV準直器：8種準直器自動切換濾光片：4種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

X射線熒光光譜儀有多種，以能量色散和波長色散為主。
1． 能量色散熒光光譜儀
能量色散型儀器大的優(yōu)點是不破壞被測的材料或產(chǎn)品，也不需要人員操作，缺點是對鉻和溴是總量測定（一般不影響使用，因為很多情況可以判定，如測鉻總量超標，常可知是不是六價鉻超標，特別是溴，如被作為阻燃劑加入，不管是那種溴，總量超標就不合格）。
進口或國產(chǎn)的各種能量色散熒光光譜儀技術(shù)水平雖有差別，但已夠應(yīng)對RoHS檢測，用戶應(yīng)根據(jù)自己的能力來選購國產(chǎn)或進口的。國產(chǎn)的XR-306能量色散X射線熒光光譜儀也能滿足RoHS的檢測。
2．波長色散熒光光譜儀。
此種儀器的靈敏度比能量色散的高一個數(shù)量級，也就是說，所測的數(shù)據(jù)并不存在“灰色地域”，不存在測定后還需拿到檢測機構(gòu)復(fù)檢。但儀器的價格比能量色散的貴很多，
 特別是進口的百萬元以上，所以沒有外國公司建議用。儀器操作和能量色散一樣，不需要人員。
國產(chǎn)BX-100R是波長色散熒光光譜儀。價格比進口的能量色散型的還便宜，使用壽命也比能量色散的長一倍（主要指探測器，能量型的一般為5年，波長型的一般為10年）。
波長型大優(yōu)點是用在原材料廠上，其測定的數(shù)據(jù)準確，給生產(chǎn)廠以確信的合格材料。
缺點是，波長法需將被測材料粉碎壓制成樣本后測才準確。所以，用在材料廠適合。如不制成樣本（非破壞），會因材料表面形狀不同而產(chǎn)生不同誤差。

X熒光光譜測試儀器用于檢測rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六價Cr以及總Br、Cl等元素含量的儀器，X熒光光譜測試儀器適合塑料，電子電子，玩具，皮革，線路板，汽車內(nèi)飾，設(shè)備等是否符合歐盟指令標準的檢測儀器。

玩具法規(guī)在全世界范圍內(nèi)不斷完善，如歐盟的《玩具指令》、美國的玩具標準-ASTM F963、ISO中一些關(guān)于玩具標準。這些標準對于玩具企業(yè)來說，執(zhí)行這些標準責無旁貸；至于說到管控成本過高的問題，其實是玩具企業(yè)沒有找到合適的解決方案。
針對玩具檢測設(shè)備，X熒光光譜儀是經(jīng)濟有效的檢測設(shè)備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產(chǎn)過程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、汞、硒等）、包裝物料的有毒元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測試結(jié)果度高。X熒光光譜儀的檢測結(jié)果可以和化學(xué)檢測媲美，還節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導(dǎo)綠色生產(chǎn)過程中必不可少的檢測工具。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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