ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準，它的全稱是《關于限制在電子電器設備中使用某些有害成分的指令》（Restriction
 of Hazardous 
Substances）。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器該標準將于2006年7月1日開始正式實施，主要用于規范電子電氣產品的材料及工藝標準，使之更加有利于人體健康及環境保護。該標準的目的在于消除電機電子產品中的鉛、汞、鎘、六價鉻、和醚共6項物質，并重點規定了鉛的含量不能超過0.1。其中涉及到的鉛主要出處有以下幾類。
[編輯本段]歐盟RoHS和WEEE指令的基本內容
歐盟議會及歐盟會于2003年2月13日在其《公報》上發布了《廢舊電子電氣》設備指令（簡稱《WEEE指令》）和《電子電氣功設備中限制使用某些有害物質指令》（簡稱《RoHS指令》）
《RoHS指令》和《WEEE指令》規定納入有害物質限制管理和報廢回收管理的有類102種產品，前七類產品都是我國主要的出口電器產品。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器包括大型家用電器、小型家用電器、信息和通訊設備、消費類產品、照明設備、電氣電子工具、玩具、休閑和運動設備、設備（被植入或被感染的產品除外）、監測和控制儀器、自動售賣機。

天瑞產品--信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上。
EDX1800B 規格參數
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復性可達0.1（含量96以上）
長期工作穩定性為0.1（含量96以上）
溫度適應范圍為15℃至30℃

EDX采用新一代的鈹窗X大功率光管，比市場上其它同類設備壽命提高了5000小時，為了壓縮成本，在產品結構優化和硬件上進一步高質設計，減少一些不必要的-客戶在實際使用中并用不上的軟硬件配置，很大程度上節省了產品的成本費用，使得成本降低20多，直接讓利給客戶。成為市場上的暢銷型產品。成為很多小型工廠的。在應用上屬于通用型產品，應用于一切材料的ROHS和無鹵檢測，EDX5500對被檢測材料的種類，化學或物理性質都沒有限制，無論是成品，或半成品，無論是金屬，塑膠，皮革，化工，鞋材，合成料，固體，液體，粉末等，都能準確，無損，快速地檢測。EDX5500-ROHS檢測儀器，廣泛應用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產和制造領域環保臨測。
技術參數
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）包含ROHS和鹵素的所有元素。可以準確定量。測量時間：200S
配新算法的ROHS分析軟件，鹵素分析軟件，材料成份分析軟件，軟件算法專利為德國。
檢出限：分析檢出限可達1ppm。含量范圍：1ppm～99.9穩定性：0.01管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達135eV準直器：10種準直器自動切換濾光片：6種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業攝像頭環境濕度：≤70環境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）

如何選擇ROHS檢測儀呢？作為的 rohs檢測儀生產商，可以從以下幾方面入手考慮，
 先要考察公司的實力，與購買其他產品一樣，要購買XRF，我們需要了解該是不是在RoHS指令期間出現。我們都知道儀器技術依賴于積累和沉淀，如果這個公司沒有長時間的技術積累，只是為RoHS而生。沒有市場認可度很可能突然蒸發，用戶將做什么以及誰將負責服務？ 
  除了測試RoHS指令測量的元素外，儀器的某些XRF還具有其他功能。有XRF還具有厚度測量功能。以及其它成分的分析。
儀器的性能是購買儀器非常重要的指標。為什么儀器的價格相差較大，主要原因是儀器的心臟，探測器
探測器分辨率的高低決定了儀器的價格和主要性能
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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