ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
性能優勢:
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用 
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點 
高分辨率探測器：提高分析的準確性 
新一代高壓電源和X光管：性能穩定可靠，實現更高的測試效率，高達100W的功率實現更高的測試效率
技術指標:
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
檢出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99 
重復性：0.05（含量96以上） 
穩定性：0.05（含量96以上）

對一些元素有很好的檢測下限以及精度。綜合應用FP法、網絡法、經驗系數法、基本參數法分析軟件。精心設計的開放性工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。
適用于：五金、接插件、電子，電氣，連接器，電鍍，PCB，塑料，皮革，鞋材等來料的ROHS分析，重金屬分析。
產品特點：
1、從硫（S）到鈾（U）的快速元素分析；
2、檢測靈敏度高；
3、測量時間短；
4、彩色CCD系統用于樣品圖像觀察；
5、有多種規格的準直器和濾光片選用，自動切換，滿足各種物質測試方式應用；
6、電制冷探測器，提高測量穩定性，提高分析的準確性，無需耗材；
7、機械結構簡單，可靠；
8、定性定量分析算法：FP基本算法，經驗系數法、網絡法、基本參數法；
9、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身。流水線型外觀，美觀，儀器內部空間大樣品腔，儀器內部通風性優，并有效屏蔽電磁干擾；
10、超短光路設計，風冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序，散熱更好，良好的散熱系統，更能保證儀器的超長使用，并能有效的X光管的壽命；
11、上照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求，樣品成像準直系統，實現對樣品的準確點測；
12、自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成，設置了自動防護開關，以確保用戶使用。

X射線熒光光譜儀有多種，以能量色散和波長色散為主。
1． 能量色散熒光光譜儀
能量色散型儀器大的優點是不破壞被測的材料或產品，也不需要人員操作，缺點是對鉻和溴是總量測定（一般不影響使用，因為很多情況可以判定，如測鉻總量超標，常可知是不是六價鉻超標，特別是溴，如被作為阻燃劑加入，不管是那種溴，總量超標就不合格）。
進口或國產的各種能量色散熒光光譜儀技術水平雖有差別，但已夠應對RoHS檢測，用戶應根據自己的能力來選購國產或進口的。國產的XR-306能量色散X射線熒光光譜儀也能滿足RoHS的檢測。
2．波長色散熒光光譜儀。
此種儀器的靈敏度比能量色散的高一個數量級，也就是說，所測的數據并不存在“灰色地域”，不存在測定后還需拿到檢測機構復檢。但儀器的價格比能量色散的貴很多，
 特別是進口的百萬元以上，所以沒有外國公司建議用。儀器操作和能量色散一樣，不需要人員。
國產BX-100R是波長色散熒光光譜儀。價格比進口的能量色散型的還便宜，使用壽命也比能量色散的長一倍（主要指探測器，能量型的一般為5年，波長型的一般為10年）。
波長型大優點是用在原材料廠上，其測定的數據準確，給生產廠以確信的合格材料。
缺點是，波長法需將被測材料粉碎壓制成樣本后測才準確。所以，用在材料廠適合。如不制成樣本（非破壞），會因材料表面形狀不同而產生不同誤差。

rohs檢測儀器的原理是利用x射線熒光技術進行元素含量分析的儀器，待測樣品被x射線激發產生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導體探測技術可以檢測到熒光值，結合現代計算機技術，通過復雜的數學函數，算出待測物品的元素含量。
特的激發X光源
激光X光源、樣品激發裝置和探測系統，大大提高儀器元素的檢測靈敏度，降低檢出限。
性能、微量X熒光檢出
采用特的光路設計和雙引擎設計，并結合使用多組濾片和多組光管激發材的切換，大大地降低了儀器的信噪比，使該儀器在X熒光設備中具有的元素檢出限。
大器穩重、準確無損
大樣品腔設計，適合于不同大小和形狀的樣品測試。采用了多重信號的電路處理和濾波技術，使測試更加穩定準確。
自動化程度高、高清攝像頭
儀器多組濾片和光路自動切換，自動升降測試蓋，高清攝像頭。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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