ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
隨著環境意識和健康意識的提高，人們對于汽車行業中有害元素和有機污染物的關注不斷增加。歐盟會和歐洲議會為保護環境、減少車輛報廢產生的廢棄物制定了ELV（End-of-Life Vehicle）即報廢車輛指令，明確規定2003年7月以后生產的汽車禁用鉛、鎘、汞和六價鉻四種有害物。2012年3月1日，國家環保部與質檢總局聯合發布了GB/T 27630《乘用車內空氣質量評價指南》，明確規定了車內空氣中有關苯、、二、乙苯、苯乙烯、、乙醛、8種常見的車內揮發性有機物濃度的限值。給客戶提供一個更加健康舒適的乘車環境，是對汽車生產制造企業的必然要求。
天瑞儀器為分析儀器的，一直致力于為客戶提供更加的產品和更加滿意的服務。天瑞儀器針對汽車行業測試需求（有害元素分析、有機污染物分析、合金材料分析、涂覆層厚度測試）給出相應的測試方案。
一、有害元素分析
歐盟議會和理事會在2000年9月18日頒布了“2000/53/EC關于報廢汽車的技術指令”，規定在2003年7月以后，原則上要求汽車材料不能含有鉛、汞、鎘和六價鉻四種有害物。這是全球對汽車材料含重金屬問題進行規范。此后，歐盟相繼頒布了“2002/525/EC”和“2005/673/EC”技術指令，對原“2000/53/EC”技術指令附錄二中有關重金屬禁用的豁免條款進行了修訂，終形成了歐盟對汽車產品重金屬禁用的技術法規體系。

相比之前的傳統的ROHS檢測儀，雖然它們大多型號也能在原基礎升級為鹵素測試，但需在硬件和軟件上做較大的改動，且成本較高，目前市場上的能測ROHS和鹵素的儀器都是分體式設計，成本較高些，而天瑞的EDX1100在算法軟件上，將ROHS測試和鹵素測試一體化，兩者化二為一，等于是一個整體，在產品成本上大大得到了壓縮，也等于是直接讓利了客戶，相比之前分體式設計也能同時檢測ROHS和鹵素的機臺，EDX1100的一體化設計，成本至少降低了30，EDX1100也采用的是新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應用上屬于通用于ROHS檢測儀器，廣泛應用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產和制造領域環保臨測。
技術參數
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）測量時間：200S
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm含量范圍：1ppm～99.9穩定性：0.01管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達125eV準直器：6種準直器自動切換濾光片：5種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業攝像頭環境濕度：≤70環境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）

天瑞產品--信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上。
EDX1800B 規格參數
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復性可達0.1（含量96以上）
長期工作穩定性為0.1（含量96以上）
溫度適應范圍為15℃至30℃

rohs檢測儀器的原理是利用x射線熒光技術進行元素含量分析的儀器，待測樣品被x射線激發產生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導體探測技術可以檢測到熒光值，結合現代計算機技術，通過復雜的數學函數，算出待測物品的元素含量。
特的激發X光源
激光X光源、樣品激發裝置和探測系統，大大提高儀器元素的檢測靈敏度，降低檢出限。
性能、微量X熒光檢出
采用特的光路設計和雙引擎設計，并結合使用多組濾片和多組光管激發材的切換，大大地降低了儀器的信噪比，使該儀器在X熒光設備中具有的元素檢出限。
大器穩重、準確無損
大樣品腔設計，適合于不同大小和形狀的樣品測試。采用了多重信號的電路處理和濾波技術，使測試更加穩定準確。
自動化程度高、高清攝像頭
儀器多組濾片和光路自動切換，自動升降測試蓋，高清攝像頭。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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