天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢(xún)江蘇天瑞儀器股份有限公司銷(xiāo)售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說(shuō)明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析，無(wú)需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1.分析樣品無(wú)損、快速，針對(duì)未知樣品可以快速分析；
2.可采用小型的XRF設(shè)備進(jìn)行便攜測(cè)試。
3.在保證工作曲線完善和樣品前處理的情況下，其測(cè)試結(jié)果重復(fù)性好、準(zhǔn)確度高。
4.多元素可同時(shí)測(cè)試得出結(jié)果，一次可測(cè)試元素二十多個(gè)以上；
5.可用于生產(chǎn)中的過(guò)程內(nèi)部控制，測(cè)試可達(dá)到在線、速度快，快速反應(yīng)生產(chǎn)線等特點(diǎn)。

探測(cè)器內(nèi)包含前置放大器與主放大器電路，一體 化設(shè)計(jì)保證儀器有好的穩(wěn)定性和可靠性分辨率底可達(dá)140eV（計(jì)數(shù)率1000/S左右時(shí)
新型的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，保證光管的散熱，提高光管的 使用壽命。高壓5-50KV電流達(dá)至iJ1mA （可根據(jù)客戶(hù)要求由軟件設(shè)置）
軟件介紹
支持Windows操作系統(tǒng)，中文版軟件（可安裝英文 軟件）件設(shè)置）
具有技術(shù)管理權(quán)限密碼功能，可以更好的保護(hù)測(cè)試數(shù) 據(jù)不被隨意更改
軟件具有定性分析，自動(dòng)元素識(shí)別功能，方便對(duì)樣品 元素的識(shí)別和定性，并可以打印具有譜圖的定性分析 報(bào)告
可以由軟件自動(dòng)控制切換準(zhǔn)直器和濾光片，減少因人 為更換錯(cuò)誤準(zhǔn)直器，而造成測(cè)量的誤差

x熒光光譜儀主要特點(diǎn)
1.檢測(cè)對(duì)象:液體/固體/粉末-固體樣品:點(diǎn)射配件-液體樣品:樣品池配件，適用于8mm瓶,NMR管和MP管 
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式：-重量輕-遠(yuǎn)程控制-藍(lán)牙無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸(或U)-電池可持續(xù)運(yùn)作5小時(shí)-數(shù)據(jù)庫(kù)可無(wú)限擴(kuò)充 
4.全球小的高性能光譜
5.120mW激發(fā)光源，功率可變
6.熒光成像可選
7.達(dá)到限衍射的成像和光譜
8.數(shù)據(jù)庫(kù)可無(wú)限擴(kuò)展

應(yīng)用領(lǐng)域
固廢快速檢測(cè)
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)
主要用于固廢行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行、飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)
儀器配置
樣品平臺(tái)
信噪比增強(qiáng)器
SDD探測(cè)器
檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話(huà)說(shuō)，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的，測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng)，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量，稱(chēng)為檢出限（或叫檢出限）。這時(shí)候，測(cè)到的含量的置信度（可信的程度）是99.87.測(cè)定檢出，一般要用含量比較低的樣品來(lái)測(cè)量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保，由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì)，但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值（N）的分布屬于隨機(jī)事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng)，則相對(duì)偏差越小，即精度越高。
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