XRF產品原理和參數詳細介紹，XRF技術說明和資料請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供XRF光譜儀報價和培訓手冊。XRF由于無需化學前處理，快速分析，一鍵測試操作簡單的特點，以及適用范圍廣德優勢深受實驗室人員的歡迎。
相比市場上同類廠商，天瑞儀器有著明顯的優勢。天瑞儀器的產品線更全，客戶在選購分析設備時，可以找到合適的產品。天瑞儀器的優勢在于其雄厚的研發實力，目前在崗的XRF研發人員達40人，可以根據客戶的需求進行定制，對軟件和硬件的研發都可以更快更好的完成并應用于下一代產品。
儀器信息網：這些年，XRF不斷向小型化發展，手持式/便攜式XRF產品逐漸增多，您如何看待XRF儀器小型化發展？貴公司有哪些手持式/便攜式XRF產品？其優勢是什么？
XRF小型化發展是市場需要所致，主要原因是客戶在使用中對現場及原位分析的要求越來越多，快速檢驗需求越來越明顯，所以手持式和便攜式的XRF逐漸增多。天瑞儀器于2008年開啟了對手持式和便攜式XRF的研發工作，截止目前，其手持式產品已經發展到第六代EXPLORER系列，便攜式產品也已經發展到第2代Cube系列。在國內，天瑞儀器開始XRF小型化、便捷化研究相對較早，且更新換代較快、系列產品非常全面。

技術指標:
測量元素范圍：硫（S）～鈾（U） 
測量時間：1s或以上 
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9
穩定性：0.02
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換 
濾光片：4種濾光片自由切換 
樣品觀察：高清工業攝像頭 
環境濕度：≤70
環境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
儀器配置:
X-SDD探測器 
數字多道分析系統 
X射線源 
高低壓電源
準直器濾光片系統
精密移動平臺
光閘系統
樣品觀測系統 
電子控制系統 
計算機及噴墨打印機
測試實例:
使用EDX 9000C儀器對汽車配件玻璃樣品進行測試，測試時間1秒，其測試譜圖和數據如下圖：
使用一秒時間能完成測試，且測試結果精度滿足測試需求。使用EDX 9000C儀器在滿足測試精度的基礎上可以大大 
的縮短測試時間。

X射線熒光光譜儀（XRF）（點擊進入XRF專場）具有譜線簡單、不破壞樣品、操作簡便、測定迅速等優點，廣泛應用于地質、冶金、采礦、有色、海洋、生化、環境、石化、商檢、電子、、考古、難融化物和建材工業等領域。
為加強用戶與儀器企業之間的信息交流，向用戶提供新的XRF新產品新技術，以及更豐富、的解決方案，儀器信息別策劃了“方興未艾 XRF新發展”專題，并邀請到XRF市場上的主流生產商們，請他們談談對XRF技術及應用新進展的看法。
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

國產XRF測試儀EDX3600K配置：
鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
超薄窗X光管
信噪比增強器SNE
超近光路增強系統
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互立的基體效應校正模型
國產XRF測試儀技術參數：
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配速探測器低至125eV
激發源：銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
攝像頭：高清攝像頭
測井環境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片：四組準直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數元素來說，低檢出限達5～500ppm
真空系統：超真空系統，10秒可到10Pa
數據傳輸：數字多道技術，快速分析，高計數率
測試臺：360°電動旋轉式
保護系統：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成
樣品放置：特的樣品杯設計，自帶壓環，可防止樣品晃動
數字多道技術：計數率>50kcps，有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環境濕度：≤90
操作環境溫度：15℃～30℃
EDX4500P應用領域
合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素、紅磷管控）
EDX 4500P  X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對ROHS重金屬元素以及磷元素進行快速、準確、無損分析。
紅磷作為阻燃劑來管控，雖然暫時并未納入RoHS管控，但是目前限于市場要求，很多國際客戶如松下、索尼、三星、LG、海爾等都對此對紅磷要求。我司推出一款針對ROHS+無鹵+無磷儀器EDX4500P.該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
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