XRF產(chǎn)品原理和參數(shù)詳細(xì)介紹，XRF技術(shù)說(shuō)明和資料請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供XRF光譜儀報(bào)價(jià)和培訓(xùn)手冊(cè)。XRF由于無(wú)需化學(xué)前處理，快速分析，一鍵測(cè)試操作簡(jiǎn)單的特點(diǎn)，以及適用范圍廣德優(yōu)勢(shì)深受實(shí)驗(yàn)室人員的歡迎。
完全滿足于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析
應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提供了產(chǎn)品的可靠性
利用新X光管提高儀器的測(cè)試效率，并優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高防護(hù)等級(jí)
不添加任何硬件設(shè)施既可升級(jí)分析功能，方便靈活的隨未來(lái)發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類
采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低
檢測(cè)時(shí)間短，可以大大提高工作效率
性能特點(diǎn)
下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

XRF優(yōu)點(diǎn)、缺點(diǎn)
a) 分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
缺點(diǎn)
a）難于作分析，故定量分析需要標(biāo)樣。
b）對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。
c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國(guó)內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對(duì)復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率； 采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性； 利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和的分析精度；采用相似自動(dòng)分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對(duì)測(cè)量帶來(lái)的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增應(yīng)得到明顯的消除。
性能特點(diǎn)
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測(cè)和RoHS檢測(cè)。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍。
針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。
電制冷UHRD探測(cè)器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。

技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量元素范圍：硫（S）～鈾（U） 
測(cè)量時(shí)間：1s或以上 
檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9
穩(wěn)定性：0.02
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測(cè)器：X-SDD探測(cè)器，分辨率可達(dá)125eV
準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換 
濾光片：4種濾光片自由切換 
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭 
環(huán)境濕度：≤70
環(huán)境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
儀器配置:
X-SDD探測(cè)器 
數(shù)字多道分析系統(tǒng) 
X射線源 
高低壓電源
準(zhǔn)直器濾光片系統(tǒng)
精密移動(dòng)平臺(tái)
光閘系統(tǒng)
樣品觀測(cè)系統(tǒng) 
電子控制系統(tǒng) 
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
測(cè)試實(shí)例:
使用EDX 9000C儀器對(duì)汽車配件玻璃樣品進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試時(shí)間1秒，其測(cè)試譜圖和數(shù)據(jù)如下圖：
使用一秒時(shí)間能完成測(cè)試，且測(cè)試結(jié)果精度滿足測(cè)試需求。使用EDX 9000C儀器在滿足測(cè)試精度的基礎(chǔ)上可以大大 
的縮短測(cè)試時(shí)間。
EDX4500P應(yīng)用領(lǐng)域
合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素、紅磷管控）
EDX 4500P  X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)ROHS重金屬元素以及磷元素進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。
紅磷作為阻燃劑來(lái)管控，雖然暫時(shí)并未納入RoHS管控，但是目前限于市場(chǎng)要求，很多國(guó)際客戶如松下、索尼、三星、LG、海爾等都對(duì)此對(duì)紅磷要求。我司推出一款針對(duì)ROHS+無(wú)鹵+無(wú)磷儀器EDX4500P.該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。
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