手持式光譜儀分析原理和性能介紹，手持式光譜儀技術參數和配置報價請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司是分析儀器制造廠商，研制的explorer5000手持式光譜儀操作簡單，質量穩定，用于金屬合金材料檢測，礦石元素成分分析，土壤重金屬含量測試，rohs鹵素快速篩選，鍍層厚度分析測量等領域。
便攜式涂層測厚儀產品介紹
應用領域：
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
天瑞儀器是金屬鍍層測厚儀之一，另外兩個分部是費希爾和牛津。天瑞的thick800a是性價比好的金屬測厚儀，能夠滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求，φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置是被測點，高分辨率探頭使分析結果更加。

天瑞在已掌握的成熟的臺式X射線熒光光譜儀技術為基礎，結合國外相關新的技術發展成果，以國際現有的商品化手持式X射線熒光光譜儀為性能目標，在手持式一代、二代和三發基礎上，加入了全新的元素，研制出具有自主知識產權的，滿足市場需求的智能、便攜式的Genius XRF 手持式四代X熒光分析儀系列產品。新一代Genius XRF系列是針對在現場，野外進行X熒光分析的應用而設計，具有體積小，重量輕，普通人可手持測量的特點；產品超小、超輕、超美、超、超方便、超長待機時間、超防水、超準、超快等特點，并在小型X射線儀上引入了數字多道技術，使儀器檢出限更好，穩定性更高，適用面更廣。產品包括有害元素分析儀Genius 3000XRF，合金分析儀Genius 5000XRF，礦石分析儀Genius 7000XRF，土壤重金屬分析儀Genius 9000XRF等一系列型號，可充分滿足從原料檢測，生產過程控制到成品檢驗中各種元素成分的現場在線分析，金屬材料的可靠性鑒別和合號快速識別，土壤重金屬現場檢測，各類地質礦樣的野外原位多元素分析等市場需求。該系列產品通過嚴格檢測和驗證，各項指標均符合相關技術要求，技術達國際水平。產品已開始批量銷售于國內外市場，受到客戶的**，打破國外廠家的壟斷。

原理
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

手持式光譜儀和便攜式光譜儀是一回事嗎？
手持式光譜儀和便攜式光譜儀不是同一種光譜儀。便攜式光譜儀分為手持式光譜儀和移動式光譜儀兩種。
前者屬于X射線熒光光譜儀，后者屬于直讀光譜儀。兩者均可鑒別金屬材料的牌號，廣泛應用于石油，化工，電廠，天然氣，煤氣等行業的壓力容器，管道閥門安裝以及現場確認材料，也應用于廢料回收，混料檢驗篩選，以及原材料牌號確認，尤其適合于不銹鋼材料的牌號確認以及定量測量元素。但前者不能測量非金屬元素例如C,S,P，后者因為屬于火花直讀光譜，可以另加一個紫外光室，所以可以現場測量非金屬元素C,S,P甚至N元素。
公司主要產品：
X射線熒光光譜儀（能量色散型與波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）\液相色譜儀(LC)、能譜儀（EDS）\高頻紅外碳硫儀（CS-Analyer）、礦漿載流在線采樣儀（OSE）……….
產品應用領域：
電子電器（ROSH等）、珠寶飾（貴金屬及鍍層等）、玩具（EN71-3等）、建材（水泥、玻璃、陶瓷）、冶金（鋼鐵鉬精礦、其他黑色及有色金屬等）、地質采礦、塑膠（無鹵測試等）、石油（微量元素S、Pb等）、化工、高嶺土、煤炭、不銹鋼、食品、醫藥、空氣、水質、土壤、衛生防疫、商品防疫、質量檢驗、人體微量元素檢驗
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