鍍層測厚儀產品詳細資料介紹，鍍層測厚儀配置和產品構造請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供鍍層測厚儀產品原理說明書和產品報價。微米級的金屬鍍層厚度分析通常用到x射線熒光分析技術，由原子外層電子躍遷所產生光譜能量叫x射線熒光，不同金屬的熒光光譜能級不同，從而有了成分分析和厚度分析的基礎。
天瑞儀器有限公司生產的能量色散X-ray鍍層測厚儀在電鍍檢測行業中， 針對上述五項需求的應用：
(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可分析；
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測，檢測環境里的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速：1分鐘可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可儀器狀態，設定儀器參數，并有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
天瑞一直致力于分析儀器事業，相信天瑞會為電鍍行業的客戶提供有競爭力的解決方案和服務。
    天瑞儀器作為一個集儀器研發、系統設計、產品生產、服務提供為一身的綜合性儀器供應廠商，一直以來嚴格遵循“360°服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內容等各個方面為客戶提供的服務。
    我公司為客戶提供技術咨詢、方案設計、技術交流、產品制造、系統集成、現場勘察、工程實施、技術培訓、服務熱線、故障處理、、巡檢等全過程、、全系列的服務。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質量的服務，更為客戶創造了更高的價值。
“快速、準確、到位”的服務
短交貨時間
快安裝
短維修周期
長保修期
個性化服務
低維護費用
Thick 8000 鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃

天瑞儀器有限公司生產的XRF鍍層測厚儀在電鍍檢測行業中， 針對上述五項需求的應用：
(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可分析；
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測，檢測環境里的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速：1分鐘可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可儀器狀態，設定儀器參數，并有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。

天瑞儀器thick800a是一款基于X射線熒光分析的鍍層測厚儀。利用X射線熒光的無損分析和現代計算機技術結合，能夠實現全部的金屬鍍層厚度測試。檢測厚度范圍0-50微米，薄至0.005微米。鍍金，鍍銀，鍍鎳，鍍鋅，鍍銅，鍍鉻，Thick800A是天瑞集多年的經驗，研發用于鍍層行業的儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。下面我們對這幾類儀器進行介紹。

元素分析范圍：硫（S）～ 鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，5層鍍層 
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：2ppm～99.9%
鍍層厚度：50μm以內（每種材料有所不同） 
任意多個可選擇的分析和識別模型 
相互立的基體效應校正模型 
多變量非線性回收程序 
重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
操作環境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源 
外觀尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm 
重量：90kg
開放式樣品腔 
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動 
雙激光定位裝置 
鉛玻璃屏蔽罩 
Si-Pin探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
X光管 
高度傳感器 
保護傳感器 
計算機及噴墨打印機
總體目標
針對本儀器采購項目的售后服務體系及培訓的總體目標是：
憑借公司的優勢保證所提供的軟硬件正常、穩定、不間斷的運行；
依賴公司深厚的技術基礎對系統定期的和不定期的巡查和檢測，使其永遠保持佳運行狀態
秉承“實時響應，點對點服務”的原則，實時解決用戶在產品使用上出現的問題；
讓用戶切實了解自身運用的系統特點，更好的操作運用系統，共同保證系統更穩定的運行，業務更好的開展。
售后服務原則：
項目建設是一項復雜而長期的技術服務，為了切實作好系統的服務工作，制定以下原則作為工作的主要原則：
響應及時性原則：公司的技術服務部以及客戶服務部門將負責對此項目的快速響應，并提供7*響應服務。
服務規范性原則：我們的實施和技術支持、維護不僅具有技術技能，而且都通過公司客戶服務規范的培訓，并嚴格按照我公司的客戶服務規范提供客戶服務。
解決問題性原則：解決問題性是通過現場支持的技能快速定位和解決問題
售后服務的保障
客戶服務響應流程：
“以客戶為中心”是我們的重要經營理念。為了真正切實貫徹這一理念，保證對客戶問題及時響應和規范服務，公司建立了一套科學、合理的客戶服務響應系統。公司客戶服務中心向客戶提供7*全時響應服務。
系統故障報告與預防處理流程：
用戶發現系統故障，工作時間通過服務電話，非工作時間撥機；用戶向客戶服務中心描述故障情況，服務技術人員解答用戶問題，如能解決，則同時發送檔案資料庫相應的故障處理文檔交與用戶。如問題復雜，服務中心解決不了。則可通過下述方式解決：
Ø 通知技術支持中心，技術支持中心立即做出反應。由技術支持中心遠程用戶進行自診斷解決或遠程登陸到用戶系統診斷并排除故障；如問題復雜，遠程無法解決，則到現場處理問題。
Ø 如果用戶提出的是綜合性的技術問題，則由項目咨詢來解答問題。
Ø 以上所有處理過程都記錄到支持中心的用戶檔案。
http://www.wszdzyxx.cn