ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
根據優(yōu)化產品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款EDX 2000C。 
應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。
性能優(yōu)勢:
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用 
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點 
高分辨率探測器：提高分析的準確性 
新一代高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，實現更高的測試效率
儀器配置:
移動樣品平臺 
信噪比增強器 
電制冷Si-PIN探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
新型X光管 
計算機及噴墨打印機

玩具法規(guī)在全世界范圍內不斷完善，如歐盟的《玩具指令》、美國的玩具標準-ASTM F963、ISO中一些關于玩具標準。這些標準對于玩具企業(yè)來說，執(zhí)行這些標準責無旁貸；至于說到管控成本過高的問題，其實是玩具企業(yè)沒有找到合適的解決方案。
針對玩具檢測設備，X熒光光譜儀是經濟有效的檢測設備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產過程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、汞、硒等）、包裝物料的有毒元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測試結果度高。X熒光光譜儀的檢測結果可以和化學檢測媲美，還節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導綠色生產過程中必不可少的檢測工具。

X射線熒光光譜儀有多種，以能量色散和波長色散為主。
1． 能量色散熒光光譜儀
能量色散型儀器大的優(yōu)點是不破壞被測的材料或產品，也不需要人員操作，缺點是對鉻和溴是總量測定（一般不影響使用，因為很多情況可以判定，如測鉻總量超標，?？芍遣皇橇鶅r鉻超標，特別是溴，如被作為阻燃劑加入，不管是那種溴，總量超標就不合格）。
進口或國產的各種能量色散熒光光譜儀技術水平雖有差別，但已夠應對RoHS檢測，用戶應根據自己的能力來選購國產或進口的。國產的XR-306能量色散X射線熒光光譜儀也能滿足RoHS的檢測。
2．波長色散熒光光譜儀。
此種儀器的靈敏度比能量色散的高一個數量級，也就是說，所測的數據并不存在“灰色地域”，不存在測定后還需拿到檢測機構復檢。但儀器的價格比能量色散的貴很多，
 特別是進口的百萬元以上，所以沒有外國公司建議用。儀器操作和能量色散一樣，不需要人員。
國產BX-100R是波長色散熒光光譜儀。價格比進口的能量色散型的還便宜，使用壽命也比能量色散的長一倍（主要指探測器，能量型的一般為5年，波長型的一般為10年）。
波長型大優(yōu)點是用在原材料廠上，其測定的數據準確，給生產廠以確信的合格材料。
缺點是，波長法需將被測材料粉碎壓制成樣本后測才準確。所以，用在材料廠適合。如不制成樣本（非破壞），會因材料表面形狀不同而產生不同誤差。

隨著環(huán)境意識和健康意識的提高，人們對于汽車行業(yè)中有害元素和有機污染物的關注不斷增加。歐盟會和歐洲議會為保護環(huán)境、減少車輛報廢產生的廢棄物制定了ELV（End-of-Life Vehicle）即報廢車輛指令，明確規(guī)定2003年7月以后生產的汽車禁用鉛、鎘、汞和六價鉻四種有害物。2012年3月1日，國家環(huán)保部與質檢總局聯合發(fā)布了GB/T 27630《乘用車內空氣質量評價指南》，明確規(guī)定了車內空氣中有關苯、、二、乙苯、苯乙烯、、乙醛、8種常見的車內揮發(fā)性有機物濃度的限值。給客戶提供一個更加健康舒適的乘車環(huán)境，是對汽車生產制造企業(yè)的必然要求。
天瑞儀器為分析儀器的，一直致力于為客戶提供更加的產品和更加滿意的服務。天瑞儀器針對汽車行業(yè)測試需求（有害元素分析、有機污染物分析、合金材料分析、涂覆層厚度測試）給出相應的測試方案。
一、有害元素分析
歐盟議會和理事會在2000年9月18日頒布了“2000/53/EC關于報廢汽車的技術指令”，規(guī)定在2003年7月以后，原則上要求汽車材料不能含有鉛、汞、鎘和六價鉻四種有害物。這是全球對汽車材料含重金屬問題進行規(guī)范。此后，歐盟相繼頒布了“2002/525/EC”和“2005/673/EC”技術指令，對原“2000/53/EC”技術指令附錄二中有關重金屬禁用的豁免條款進行了修訂，終形成了歐盟對汽車產品重金屬禁用的技術法規(guī)體系。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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