ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
對一些元素有很好的檢測下限以及精度。綜合應用FP法、網絡法、經驗系數法、基本參數法分析軟件。精心設計的開放性工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。
適用于：五金、接插件、電子，電氣，連接器，電鍍，PCB，塑料，皮革，鞋材等來料的ROHS分析，重金屬分析。
產品特點：
1、從硫（S）到鈾（U）的快速元素分析；
2、檢測靈敏度高；
3、測量時間短；
4、彩色CCD系統用于樣品圖像觀察；
5、有多種規格的準直器和濾光片選用，自動切換，滿足各種物質測試方式應用；
6、電制冷探測器，提高測量穩定性，提高分析的準確性，無需耗材；
7、機械結構簡單，可靠；
8、定性定量分析算法：FP基本算法，經驗系數法、網絡法、基本參數法；
9、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身。流水線型外觀，美觀，儀器內部空間大樣品腔，儀器內部通風性優，并有效屏蔽電磁干擾；
10、超短光路設計，風冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序，散熱更好，良好的散熱系統，更能保證儀器的超長使用，并能有效的X光管的壽命；
11、上照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求，樣品成像準直系統，實現對樣品的準確點測；
12、自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成，設置了自動防護開關，以確保用戶使用。

RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準，它的全稱是《關于限制在電子電器設備中使用某些有害成分的指令》（Restriction
 of Hazardous 
Substances）。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器該標準將于2006年7月1日開始正式實施，主要用于規范電子電氣產品的材料及工藝標準，使之更加有利于人體健康及環境保護。該標準的目的在于消除電機電子產品中的鉛、汞、鎘、六價鉻、和醚共6項物質，并重點規定了鉛的含量不能超過0.1%。其中涉及到的鉛主要出處有以下幾類。
[編輯本段]歐盟RoHS和WEEE指令的基本內容
歐盟議會及歐盟會于2003年2月13日在其《公報》上發布了《廢舊電子電氣》設備指令（簡稱《WEEE指令》）和《電子電氣功設備中限制使用某些有害物質指令》（簡稱《RoHS指令》）
《RoHS指令》和《WEEE指令》規定納入有害物質限制管理和報廢回收管理的有類102種產品，前七類產品都是我國主要的出口電器產品。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器包括大型家用電器、小型家用電器、信息和通訊設備、消費類產品、照明設備、電氣電子工具、玩具、休閑和運動設備、設備（被植入或被感染的產品除外）、監測和控制儀器、自動售賣機。

X熒光光譜測試儀器用于檢測rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六價Cr以及總Br、Cl等元素含量的儀器，X熒光光譜測試儀器適合塑料，電子電子，玩具，皮革，線路板，汽車內飾，設備等是否符合歐盟指令標準的檢測儀器。

EDX5600是國內應用多的一款設備，除了較高的性價比外，其更人性化的設計軟硬件，使其在電子電器，通訊制造，家電配件，塑膠，五金等領域得到了廣泛的應用，采用新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應用上屬于通用型ROHS檢測儀器。
技術參數
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U） 可以測量包括ROHS鹵素元素外的70多種元素。
有ROHS分析軟件，只針對ROHS六項測試和鹵素元素測試的窗口。一健式操作。
測試時間可人為設置，可短或長。一般測量時間：60S-200S
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm 檢出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就檢不出來。含量范圍：1ppm～99.9%穩定性：0.01% 管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：半導體電子制冷探測器，分辨率可達165eV準直器：8種準直器自動切換濾光片：4種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業攝像頭環境濕度：≤70%環境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
http://www.wszdzyxx.cn