EDXThick800是一款全新上照式多功能自動微區(qū)X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統(tǒng)、雙激光定位和保護系統(tǒng),可多點位編程測試,被廣泛應用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量。
產(chǎn)品應用領域
測量超微小部件和結(jié)構(gòu),如:印制線路板、連接器或引線框架等;
分析超薄鍍層,如:厚度薄至2nm的Au鍍層和≤30nm的Pd鍍層;
測量電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層;
分析復雜的多鍍層系統(tǒng);
全自動測量,如:用于質(zhì)量控制領域;
符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標準。

天瑞儀器在X射線熒光光譜儀行業(yè)屢創(chuàng)輝煌，譬如，生產(chǎn)的食品重金屬快速檢測儀EDX 3200S PLUS X，采用了能量色散X射線熒光光譜技術(shù)實現(xiàn)食品中微量重金屬有害元素的快速檢測，操作簡單，自動化程度高，可同時檢測24個樣本；在多年同時式波長色散X射線熒光光譜儀的研發(fā)和產(chǎn)品化基礎上，在國家重大科學儀器設備開發(fā)專項資金支持下，融合的科技創(chuàng)新和發(fā)明，推出了國內(nèi)臺商業(yè)化順序式波長色散X射線熒光光譜儀——WDX 4000，為土壤重金屬檢測提供新支持；成功研發(fā)EXPLORER手持式能量色散X射線熒光光譜儀，促進了儀器的小型化與便攜化等。
今后，天瑞儀器將繼續(xù)以“行業(yè)”為目標，不斷提升技術(shù)水平，使國產(chǎn)儀器媲美國外，走向國際。同時，天瑞儀器著眼于日益嚴峻的環(huán)保形勢，積極調(diào)整產(chǎn)品結(jié)構(gòu)，致力于環(huán)保解決方案的提供，守護碧水藍天。與時俱進開拓創(chuàng)新，用科學技術(shù)服務于國家，服務于，是每

9月21日，“清華大學經(jīng)管學院與創(chuàng)新變革研修班”學員一行百余人參觀了天瑞儀器。此次研修班是由河南平頂山工業(yè)和信息化會牽頭組織并由清華大學經(jīng)濟管理學院承辦。天瑞儀器市場部經(jīng)理接待并陪同大家參觀。
研修班學員一行人參觀了天瑞儀器多媒體產(chǎn)品展廳。講解員為大家介紹公司的發(fā)展歷程、公司的產(chǎn)品并為參觀人員現(xiàn)場演示了儀器的操作使用。天瑞儀器作為國內(nèi)分析測試儀器行業(yè)上市公司，將以“行業(yè)技術(shù)”的姿態(tài)，不斷探究世界分析領域的。為客戶提供更加的產(chǎn)品和更加滿意的服務，同時為環(huán)境保護、食品安全、電子、電器、珠寶、玩具、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等眾多行業(yè)提供更為完善的行業(yè)整體解決方案，從而推動中國經(jīng)濟快速全球化。

測厚儀產(chǎn)品特性
★進口高精度傳感器，保證了測試精度
★嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制
★測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
★手動、自動雙重測量模式，更方便客戶選擇
★配備微型打印機，數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印，方便快捷地獲取測試結(jié)果
★打印值、小值、平均值及每次測量結(jié)果，方便用戶分析數(shù)據(jù)
★儀器自動保存多100組測試結(jié)果，隨時查看并打印
★標準量塊標定,方便用戶快速標定設備
★測厚儀配備自動進樣器，可一鍵實現(xiàn)全自動多點測量，人為誤差小
★軟件提供測試結(jié)果圖形統(tǒng)計分析，準確直觀地將測試結(jié)果展示給用戶
★配備標準RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進行快速對焦分析。能地滿足半導體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
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