天瑞儀器edx1800b產品詳細技術資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產品報價和說明。一鍵式設計的xrf測試儀器被廣泛應用于rohs指令的有害物質含量測試和分析，無需化學前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡化測試手段。
工作原理
X熒光光譜ROHS檢測儀工作原理是由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X 射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理，測試出待測產品的元素含量。

RoHS檢測儀是一款集鹵素指令、RoHS指令、重金屬指令于一體的X熒光光譜儀。對鉛、汞、鎘、鋇等元素有很好的檢測下限以及精度。X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，可以測定元素含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

產品特點
快速：一般測量一個樣品只需要1～3分鐘
無損：物理測量，不改變樣品性質
直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然
環保：檢測過程中不產生任何廢氣、廢水

熒光光譜儀是一種波長較短的電磁，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺式x熒光光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特征，通過側里和分析樣品產生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質成分的定性和定量信息。
特征臺式x熒光光譜儀的產生與特性當用高能電子束照射樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負的加速度會產生寬帶的連續X射線譜，簡稱為連續潛或韌致。另一方面，化學元素受到高能光子或粒子的照射，如內層電子被激發，則當外層電子躍遷時，會放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續譜。如果激發光源為x射線，則受激產生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產生的過程。
ROHS檢測儀相關基礎術語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度是重現性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關的，測量的時間越長，則精度越高。
2.重復性
定義為儀器測同一款樣品的連續測試十一次或二十一次的相對標準偏差。
3.準確度
定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準確度也一定差。反之，準確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統計漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當獲得背景強度標準偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計數統計誤差
在放射性物質的測量中，假設儀器穩定性、機械在現性可確保，由儀器機械產生的誤差可以忽略不計，但計數統計誤差還是不能。X射線強度是把入射到計數器上的光子變成脈沖后計數而得到的。因而計數值在本質上具有統計誤差。 被測X射線的計數值（N）的分布屬于隨機事件，其標準偏差由 N求出。 N叫統計誤差。時間越長，則相對偏差越小，即精度越高。
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