分析范圍0~50微米
分析誤差5%
分析時間30秒
重復性0.1%
電源電壓220V
EDXThick800是一款全新上照式多功能自動微區X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統、雙激光定位和保護系統,可多點位編程測試,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。
X射線測厚儀:
利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心,采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統,達到要求的軋制厚度。主要應用行業:有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加。
紙張測厚儀:
適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
X射線測厚儀:適用生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業,可以與軋機配套,應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中,x射線測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制。涂層測厚儀F型探頭可直接測量導磁材料(如鋼鐵、鎳)表面上的非導磁覆蓋層厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻、等)。可應用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測量,也可用于船體油漆及水下結構件的附著物的厚度測量。

x射線測厚儀是一種檢測儀器,以PLC和工業計算機為核心,采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統,已達到要求的軋制厚度。
x射線測厚儀是一種,以和工業計算機為核心,采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度,已達到要求的軋制厚度。今天我們主要來介紹一下x射線測厚儀的系統構成方法,希望可以幫助用戶更好的應用產品。
用戶操作終端
用戶操作終端包括一個的計算機和高分辨率的彩色。可顯示整個系統的檢測、設定、偏差值;用戶通過軟件顯示頁面可直接控制和操作測厚儀。主操作頁顯示正常操作所需的各種數據。維護頁面顯示系統正常工作時各種參數高壓反饋、管電流、燈絲電流、射線源溫度等。一些與用戶質量有關的重要數據如厚差曲線、厚度與長度關系曲線均可打印。技術員能很容易地通過操作終端的報表打印功能,打印出來以顯示可用信息。
冷卻系統
本系統配備有冷卻裝置,該裝置的關鍵部件,壓縮機組均采用進口原裝組件,具有可靠性高、噪音小、控溫精度高,經久耐用等特點。通過C型架上進出油口進行冷卻。了關鍵部件的使用壽命。
X射線發射源及接收檢測頭
采用X射線管和。X射線管裝在一個抽真空后注滿油的全密封的油箱中保證絕緣和良好冷卻,高壓等級根據有所區別,加上具有的溫度自動保護與功能,提高了X射線管的穩定性和使用壽命。模塊化設計、免維護設計方案及規范的制造保證了設備系統高可靠性。
檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成高性能電離室檢測頭,離子室設計具有大空間,高抗干擾性、高靈敏度等特點。系統備有風冷、油冷恒溫冷卻單元,系統的使用壽命。
主控制柜
主控制柜是一個立式控制臺,是個系統的心臟。根據制系統配置不同,P型采用S7-400PLC作為控制計算中心;G型采用為控制計算中心。控制柜負責采集和處理從前置放大器傳來的,負責測厚儀數據處理和與軋機AGC系統的接口輸出,為軋機AGC系統提供測厚數據及控制。控制柜還提供整個系統穩定的和現場顯示器的顯示數據。

9月21日,“清華大學經管學院與創新變革研修班”學員一行百余人參觀了天瑞儀器。此次研修班是由河南平頂山工業和信息化會牽頭組織并由清華大學經濟管理學院承辦。天瑞儀器市場部經理接待并陪同大家參觀。
研修班學員一行人參觀了天瑞儀器多媒體產品展廳。講解員為大家介紹公司的發展歷程、公司的產品并為參觀人員現場演示了儀器的操作使用。天瑞儀器作為國內分析測試儀器行業上市公司,將以“行業技術”的姿態,不斷探究世界分析領域的。為客戶提供更加的產品和更加滿意的服務,同時為環境保護、食品安全、電子、電器、珠寶、玩具、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等眾多行業提供更為完善的行業整體解決方案,從而推動中國經濟快速全球化。

測厚儀產品特性
★進口高精度傳感器,保證了測試精度
★嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制
★測量頭自動升降,避免了人為因素造成的系統誤差
★手動、自動雙重測量模式,更方便客戶選擇
★配備微型打印機,數據實時顯示、自動統計、打印,方便快捷地獲取測試結果
★打印值、小值、平均值及每次測量結果,方便用戶分析數據
★儀器自動保存多100組測試結果,隨時查看并打印
★標準量塊標定,方便用戶快速標定設備
★測厚儀配備自動進樣器,可一鍵實現全自動多點測量,人為誤差小
★軟件提供測試結果圖形統計分析,準確直觀地將測試結果展示給用戶
★配備標準RS232接口,方便系統與電腦的外部連接和數據傳輸
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術,研發的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等形態的樣品進行快速對焦分析。能地滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。
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