ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
X熒光光譜測試儀器用于檢測rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六價Cr以及總Br、Cl等元素含量的儀器，X熒光光譜測試儀器適合塑料，電子電子，玩具，皮革，線路板，汽車內飾，設備等是否符合歐盟指令標準的檢測儀器。

天瑞是一家高科技生產企業，天瑞X射線ROHS分析儀是應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性，大功率的X光管提高儀器的測試效率，從而實現ROHS六項有害物質的快速測試。性能特點下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求，準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用，移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點，高分辨率探測器：提高分析的準確性。新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率。

ROHS檢測分析設備ED1800B適用行業
一、大型家用電器：
大型制冷器具、冰箱、冷凍箱、其它用于食品制冷、保鮮和儲存的大型器具等。
二、小型家用電器：
真空吸塵器、地毯清掃機、其它清潔器具、用于縫紉、編織及其它織物加工的器具等。
三、信息和通訊設備：
數據處理器、個人計算機、打印機、復印設備、電氣電子打字機、臺式和袖珍計算器等。
四、消費類產品：
收音機、電視機、錄象機、錄音機、高錄音機、功放機、音樂儀器、其他記錄或復制聲音、圖象的產品或設備。 
五、照明設備：
熒光燈具（家用的照明設備除外）、直型熒光燈、緊湊型熒光燈、高亮度放電燈等。
六、電氣電子工具：
電鉆、電鋸、縫紉機，對木材、金屬或其它材料進行車削、銑、砂磨、研磨、鋸削、切割、剪切、鉆孔、沖孔、折疊、彎曲或
類似加工的設備等。
七、玩具、休閑和運動設備：
電動火車或、手持電子游戲機、電子游戲機、用于騎自行車、潛水、跑步、劃船等的測算裝置；帶有電子或電氣元件的運動設備。
技術指標
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm 
樣品腔尺寸：460×298×98mm 
重量：45Kg
二.工作環境要求：
2.1 環境溫度要求：15℃-30℃
2.2 環境相對濕度：<70%
2.3 工作電源：交流220±5V
2.4 周圍不能有強電磁干擾。


標準配置
移動樣品平臺
信噪比增強器
電制冷Si-PIN探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機

售后服務：
所出售本合同所規定的儀器進行維修，免費提供升級軟件。
提供有效的技術服務，在接到用戶故障信息后，4小時內響應；如有必要，12～72個小時內派人上門維修和排除故障。負責培訓操作人員，培訓內容為儀器分析原理、結構、操作、維護保養、簡單維修、軟件使用、方法建立、樣品測試等。

ROHS檢測儀主要性能優勢：
1、采用激發X光源，樣品激發結構和探測系統，提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現代化的外觀，結構和色彩，上蓋電動控制開關，更人性化；
3、準直器，濾光片自動切換，可適應不同的樣品測試要求；
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測試軟件。

性能優勢:
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用 
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點 
高分辨率探測器：提高分析的準確性 
新一代高壓電源和X光管：性能穩定可靠，實現更高的測試效率，高達100W的功率實現更高的測試效率
技術指標:
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
檢出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99％ 
重復性：0.05％（含量96％以上） 
穩定性：0.05％（含量96％以上）
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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