ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
相比之前的傳統的ROHS檢測儀，雖然它們大多型號也能在原基礎升級為鹵素測試，但需在硬件和軟件上做較大的改動，且成本較高，目前市場上的能測ROHS和鹵素的儀器都是分體式設計，成本較高些，而天瑞的EDX1100在算法軟件上，將ROHS測試和鹵素測試一體化，兩者化二為一，等于是一個整體，在產品成本上大大得到了壓縮，也等于是直接讓利了客戶，相比之前分體式設計也能同時檢測ROHS和鹵素的機臺，EDX1100的一體化設計，成本至少降低了30%，EDX1100也采用的是新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應用上屬于通用于ROHS檢測儀器，廣泛應用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產和制造領域環保臨測。
技術參數
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）測量時間：200S
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm含量范圍：1ppm～99.9%穩定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達125eV準直器：6種準直器自動切換濾光片：5種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業攝像頭環境濕度：≤70%環境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）

玩具法規在全世界范圍內不斷完善，如歐盟的《玩具指令》、美國的玩具標準-ASTM F963、ISO中一些關于玩具標準。這些標準對于玩具企業來說，執行這些標準責無旁貸；至于說到管控成本過高的問題，其實是玩具企業沒有找到合適的解決方案。
針對玩具檢測設備，X熒光光譜儀是經濟有效的檢測設備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產過程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、汞、硒等）、包裝物料的有毒元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測試結果度高。X熒光光譜儀的檢測結果可以和化學檢測媲美，還節省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業倡導綠色生產過程中必不可少的檢測工具。

X射線熒光光譜儀有多種，以能量色散和波長色散為主。
1． 能量色散熒光光譜儀
能量色散型儀器大的優點是不破壞被測的材料或產品，也不需要人員操作，缺點是對鉻和溴是總量測定（一般不影響使用，因為很多情況可以判定，如測鉻總量超標，常可知是不是六價鉻超標，特別是溴，如被作為阻燃劑加入，不管是那種溴，總量超標就不合格）。
進口或國產的各種能量色散熒光光譜儀技術水平雖有差別，但已夠應對RoHS檢測，用戶應根據自己的能力來選購國產或進口的。國產的XR-306能量色散X射線熒光光譜儀也能滿足RoHS的檢測。
2．波長色散熒光光譜儀。
此種儀器的靈敏度比能量色散的高一個數量級，也就是說，所測的數據并不存在“灰色地域”，不存在測定后還需拿到檢測機構復檢。但儀器的價格比能量色散的貴很多，
 特別是進口的百萬元以上，所以沒有外國公司建議用。儀器操作和能量色散一樣，不需要人員。
國產BX-100R是波長色散熒光光譜儀。價格比進口的能量色散型的還便宜，使用壽命也比能量色散的長一倍（主要指探測器，能量型的一般為5年，波長型的一般為10年）。
波長型大優點是用在原材料廠上，其測定的數據準確，給生產廠以確信的合格材料。
缺點是，波長法需將被測材料粉碎壓制成樣本后測才準確。所以，用在材料廠適合。如不制成樣本（非破壞），會因材料表面形狀不同而產生不同誤差。

EDX5600是國內應用多的一款設備，除了較高的性價比外，其更人性化的設計軟硬件，使其在電子電器，通訊制造，家電配件，塑膠，五金等領域得到了廣泛的應用，采用新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應用上屬于通用型ROHS檢測儀器。
技術參數
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U） 可以測量包括ROHS鹵素元素外的70多種元素。
有ROHS分析軟件，只針對ROHS六項測試和鹵素元素測試的窗口。一健式操作。
測試時間可人為設置，可短或長。一般測量時間：60S-200S
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm 檢出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就檢不出來。含量范圍：1ppm～99.9%穩定性：0.01% 管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：半導體電子制冷探測器，分辨率可達165eV準直器：8種準直器自動切換濾光片：4種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業攝像頭環境濕度：≤70%環境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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