EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區(qū)膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等簡單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對焦分析，滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng)。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)、電子通訊、新能源、五金衛(wèi)浴、電器設(shè)備
汽車制造、磁性材料、貴金屬電鍍、高校及科研院所等
電鍍是國民經(jīng)濟(jì)中必不可少的基礎(chǔ)工藝性行業(yè)，同時(shí)又是重污染行業(yè)。電鍍所帶來的廢氣、廢水、廢渣嚴(yán)重地影響人們的生活與健康。要提高電鍍企業(yè)的實(shí)力就必須從企業(yè)的硬件著手。而內(nèi)部管控測試是必不可少的環(huán)節(jié)，其中產(chǎn)品膜厚檢測、RoHS有害元素檢測、電鍍液分析、電鍍工業(yè)廢水、廢渣中的重金屬檢測和水質(zhì)在線檢測等更是重中之重。為此江蘇天瑞儀器股份有限公司基于強(qiáng)大的研發(fā)和應(yīng)用能力特別為電鍍行業(yè)制定了一套有效的測試解決方案。
鍍層膜厚檢測：有效進(jìn)行鍍層厚度的產(chǎn)品質(zhì)量管控
電鍍液分析：檢測電鍍液成分及濃度，確保鍍層質(zhì)量
水質(zhì)在線監(jiān)測：有效監(jiān)測電鍍所產(chǎn)生的工業(yè)廢水中的有害物質(zhì)含量，已達(dá)到排放標(biāo)準(zhǔn)
RoHS有害元素檢測：為電鍍產(chǎn)品符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)，嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)
重金屬及槽液雜質(zhì)檢測：有效檢測電鍍成品，以及由電鍍所產(chǎn)生的工業(yè)廢水、廢物中的重金屬含量
2、 天瑞儀器有限公司生產(chǎn)的能量色散X熒光光譜儀系列在電鍍檢測行業(yè)中， 針對上述五項(xiàng)需求的應(yīng)用：
(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準(zhǔn)分析；
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質(zhì)檢測、水質(zhì)在線監(jiān)測可進(jìn)行快速檢測，檢測環(huán)境里的重金屬是否超標(biāo)。
同時(shí)具有以下特點(diǎn)
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國際上的電制冷半導(dǎo)體探測器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補(bǔ)充液氮，操作使用更加方便，并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示元素含量。

X熒光測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定。它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理；分析時(shí)間短，僅為數(shù)十秒；即可分析出各金屬鍍層的厚度，分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法，屬于物理分析方法。當(dāng)鍍層樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，探測器探測到這些特征X射線后，將其光轉(zhuǎn)變?yōu)槟M；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理；計(jì)算機(jī)的應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。 
我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠多年的科學(xué)研究，總結(jié)多年的現(xiàn)場應(yīng)用實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的X熒光測厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)。 
我公司新研制的X熒光測厚儀，廣泛用于用于鍍層厚度的測量、電鍍液厚度的測量。  
1. 儀器特點(diǎn)： 
Ø  同時(shí)分析元素周期表中由鈦（Ti）以上元素的鍍層厚度； 
Ø  可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度； 
Ø  無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.01M到60M ； 
Ø  采用的探測器技術(shù)及的處理線路，處理速度快，精度高，穩(wěn)定可靠； 
Ø  采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管，激發(fā)與測試條件采用計(jì)算機(jī)軟件數(shù)碼控制與顯示； 
Ø  采用彩色攝像頭，準(zhǔn)確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像； 
Ø  采用電動控制樣品平臺，可以進(jìn)行X-Y-Z的，準(zhǔn)確方便； 
Ø  采用雙激光對焦系統(tǒng)，準(zhǔn)確定位測量位置； 
Ø  度高，穩(wěn)定性好，故障率低； 
Ø  采用多層屏蔽保護(hù)，安全性可靠； 
Ø  WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件，特的分析方法，完備強(qiáng)大的功能，操作簡單，使用方便,  分析結(jié)果存入標(biāo)準(zhǔn)ACCESS數(shù)據(jù)庫；  
2、儀器的技術(shù)特性 
2.1 X-Y-Z樣品平臺裝置 
 X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺裝置具有可容納各種形態(tài)被測樣品的樣品室。 
樣品種類：各種形狀的鍍層樣品，及電鍍液體樣品。 
平臺：X-Y-Z采用電動方式，實(shí)用方便。

x射線測厚儀是一種檢測儀器，以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，已達(dá)到要求的軋制厚度。
    x射線測厚儀是一種，以和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度，已達(dá)到要求的軋制厚度。今天我們主要來介紹一下x射線測厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成方法，希望可以幫助用戶更好的應(yīng)用產(chǎn)品。
用戶操作終端
用戶操作終端包括一個(gè)的計(jì)算機(jī)和高分辨率的彩色。可顯示整個(gè)系統(tǒng)的檢測、設(shè)定、偏差值;用戶通過軟件顯示頁面可直接控制和操作測厚儀。主操作頁顯示正常操作所需的各種數(shù)據(jù)。維護(hù)頁面顯示系統(tǒng)正常工作時(shí)各種參數(shù)高壓反饋、管電流、燈絲電流、射線源溫度等。一些與用戶質(zhì)量有關(guān)的重要數(shù)據(jù)如厚差曲線、厚度與長度關(guān)系曲線均可打印。技術(shù)員能很容易地通過操作終端的報(bào)表打印功能，打印出來以顯示可用信息。
冷卻系統(tǒng)
本系統(tǒng)配備有冷卻裝置，該裝置的關(guān)鍵部件，壓縮機(jī)組均采用進(jìn)口原裝組件，具有可靠性高、噪音小、控溫精度高，經(jīng)久耐用等特點(diǎn)。通過C型架上進(jìn)出油口進(jìn)行冷卻。了關(guān)鍵部件的使用壽命。
X射線發(fā)射源及接收檢測頭
采用X射線管和。X射線管裝在一個(gè)抽真空后注滿油的全密封的油箱中保證絕緣和良好冷卻，高壓等級根據(jù)有所區(qū)別，加上具有的溫度自動保護(hù)與功能，提高了X射線管的穩(wěn)定性和使用壽命。模塊化設(shè)計(jì)、免維護(hù)設(shè)計(jì)方案及規(guī)范的制造保證了設(shè)備系統(tǒng)高可靠性。
檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成高性能電離室檢測頭，離子室設(shè)計(jì)具有大空間，高抗干擾性、高靈敏度等特點(diǎn)。系統(tǒng)備有風(fēng)冷、油冷恒溫冷卻單元，系統(tǒng)的使用壽命。
主控制柜
主控制柜是一個(gè)立式控制臺，是個(gè)系統(tǒng)的心臟。根據(jù)制系統(tǒng)配置不同，P型采用S7-400PLC作為控制計(jì)算中心;G型采用為控制計(jì)算中心。控制柜負(fù)責(zé)采集和處理從前置放大器傳來的，負(fù)責(zé)測厚儀數(shù)據(jù)處理和與軋機(jī)AGC系統(tǒng)的接口輸出，為軋機(jī)AGC系統(tǒng)提供測厚數(shù)據(jù)及控制。控制柜還提供整個(gè)系統(tǒng)穩(wěn)定的和現(xiàn)場顯示器的顯示數(shù)據(jù)。

性能優(yōu)勢
1、結(jié)合鍍層行業(yè)微小樣品的檢測需求,專門研發(fā)適用于鍍層檢測的超近光路系統(tǒng),減少能量過程損耗。搭載的多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦管,大的提升了儀器的檢測性能,聚焦強(qiáng)度提升1000~10000倍,更高的檢測靈敏度和分析精度以及高計(jì)數(shù)率保證測試結(jié)果的性和穩(wěn)定性。
2、全景+微區(qū)雙相機(jī)設(shè)計(jì),呈現(xiàn)全高清廣角視野,讓樣品觀察更全面;微米級別分辨率,的滿足超微產(chǎn)品的測試,讓測試更廣泛更便捷。
3、的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù),信號強(qiáng)度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個(gè)數(shù)量級。
4、多規(guī)格可選的多導(dǎo)毛細(xì)管,的滿足用戶不同測試需求。
5、高精度XYZ軸移動測試平臺,結(jié)合雙激光點(diǎn)位定位系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)在樣品測試過程中的全自動化感受一鍵點(diǎn)擊,測試更省心。
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實(shí)現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
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