鍍層測厚儀產品詳細資料介紹，鍍層測厚儀配置和產品構造請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供鍍層測厚儀產品原理說明書和產品報價。微米級的金屬鍍層厚度分析通常用到x射線熒光分析技術，由原子外層電子躍遷所產生光譜能量叫x射線熒光，不同金屬的熒光光譜能級不同，從而有了成分分析和厚度分析的基礎。
X射線熒光鍍層檢測儀，型號thick800a


制造廠商：江蘇天瑞儀器股份有限公司


產品圖片：




主要技術指標：


1、儀器尺寸：


外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm


樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，


測試時，可開蓋，對樣品長度無限制


檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。


樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm


移動范圍：50(X)mm， 50(Y)mm


Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm


2、儀器重量：90kg


3、SDD半導體探測器：  


探測器輸入電壓：±12V，+5V


探頭窗口面積：25mm2


探頭窗口厚度：0.5mil


分辨率：140±5eV


探頭內制冷溫度：<-40℃


4、X射線光管：


管壓：5-50kV


管流：0-1mA


靶材：W靶


窗口：鈹窗


制冷方式：風冷


工作溫度：≤75℃


5、高壓發生器：


輸入電壓：24V


輸入大電流：5A


管壓：0-50kV


管流：0-2mA


燈絲大電壓：5V


燈絲大電流：3.5A


6、MCA多道分析器：


輸入電壓：±12V，+5V


采樣頻率：100 KHZ


脈沖幅度：0-7.6V


A/D位數：12位


分析道數：2048道


7、準直器系統：


準直器：Ø0.1 mm(可根據要求選配)


濾光片：Mo(可根據要求選配)


8、高清晰攝像頭： 


傳感器類型：CCD（彩色）


接口：USB2.0


傳感器廠商：索尼


快門類型：面陣


光學尺寸：1/4英寸


有效像素：659(H)×494（V）


有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)


像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：


感應度：0.58V（索尼標準）


顏色排列：RGB


幀率：30fps


快門速度：1/1538-1/30（秒）


9、自動對焦系統：


通用數字激光傳感器、CMOS激光傳感器


實現樣品高度的自動對焦。

天瑞儀器有限公司生產的能量色散X-ray鍍層測厚儀在電鍍檢測行業中， 針對上述五項需求的應用：
(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可分析；
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測，檢測環境里的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速：1分鐘可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可儀器狀態，設定儀器參數，并有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
天瑞一直致力于分析儀器事業，相信天瑞會為電鍍行業的客戶提供有競爭力的解決方案和服務。
    天瑞儀器作為一個集儀器研發、系統設計、產品生產、服務提供為一身的綜合性儀器供應廠商，一直以來嚴格遵循“360°服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內容等各個方面為客戶提供的服務。
    我公司為客戶提供技術咨詢、方案設計、技術交流、產品制造、系統集成、現場勘察、工程實施、技術培訓、服務熱線、故障處理、、巡檢等全過程、、全系列的服務。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質量的服務，更為客戶創造了更高的價值。
“快速、準確、到位”的服務
短交貨時間
快安裝
短維修周期
長保修期
個性化服務
低維護費用
Thick 8000 鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃

天瑞X射線膜厚測試儀性能介紹及配置：


此型號為Thick800a



詳細配置信息：


一、硬件：主機壹臺，含下列主要部件：  


(1)  X光管（牛津）           (2)Si-PIN電制冷半導體探測器（美國AMPTEK）  


(3)    信號檢測電子電路        (4)    高精度二維移動平臺


(5)    高清晰攝像頭            (6) 高低壓電源(SPELLMAN)


(7)  開放式樣品腔            (8）雙激光定位裝置


(9)  鉛玻璃屏蔽罩


二、軟件及其他：天瑞X射線膜厚測試儀FpThick分析軟件V1.0


2.1    計算機、打印機各一臺


計算機（聯想，內存2G,硬盤500G液晶顯示屏19寸）、Intel Pentium G3220*處理器


打印機（佳能，彩色噴墨打印機）


2.2    資料：器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。


2.3    標準附件


 準直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可選其中一種）


（已內置于儀器中）


天瑞X射線膜厚測試儀產品圖片：





     性能描述：
   
      滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護


天瑞X射線鍍層測厚儀使用環境：


 環境溫度要求：15℃-30
環境相對濕度：<70%
工作電源：交流220±5V
周圍不能有強電磁干擾。


天瑞X射線鍍層測厚儀技術指標：



分析元素范圍：K-U


同時可分析多達5層鍍層


分析厚度檢出限高達0.005μm


定位精度：0.1mm


測量時間：5s-300s


計數率：0-8000cps


Z軸升降范圍：0-140mm


X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)






銅鍍鎳件膜厚儀測試譜圖





樣 品 名


成分Ni(%)


鍍層Ni(um)


吊扣


100


19.321


吊扣2#


100


19.665


吊扣3#


100


18.846


吊扣4#


100


19.302


吊扣5#


100


18.971


吊扣6#


100


19.031


吊扣7#


100


19.146


平均值


100


19.18314


標準偏差


0


0.273409


相對標準偏差


0


1.425257


銅鍍鎳件測試值


分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩壓電源）
測量時間：40秒（可根據實際情況調整）小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm，儀器重量：30kg


應用領域


X熒光鍍層厚度測試儀廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛浴等行業。


天瑞儀器對X射線膜厚儀提供的售后服務體系：


軟件免費升級：如有軟件升級，乙方將免費提供升級軟件，如需上門升級按技術服務條款收取相關費用；免費保修1年， 免費保修期內，維修相關費用全免；


技術服務的響應期限：提供有效的技術服務，在接到用戶故障信息后，4小時內響應；如有必要，12～72個小時內派人上門維修和排除故障。


非乙方產品自身故障所造成的現場技術服務（如增加測試功能和數據校正等），乙方將按技術服務條款收取相關費用。由甲方人為造成的損傷不在上述保修條款中，具體事例雙方協商解決。

鍍鋅板是指表面鍍有一層鋅的鋼板。全世界鋅產量的一半左右均用于此種工藝，特別是汽車產品，鍍鋅板廣泛應用于乘用車白車身、底盤金屬件。鍍鋅鋼板是為防止鋼板表面遭受腐蝕，延長其使用壽命，在鋼板表面涂以一層金屬鋅，這種涂鋅的薄鋼板稱為鍍鋅板。
天瑞儀器有限公司生產的X射線熒光測厚儀在電鍍檢測行業中， 針對上述五項需求的應用：
(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可分析；
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測，檢測環境里的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速：1分鐘可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可儀器狀態，設定儀器參數，并有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
我公司將通過自行研發的SKYRAY遠程設備智能平臺對設備的運行狀態進行遠程協助診斷。我公司的每臺在線儀器均可通過內置無線GPRS模塊連接至此平臺，實現儀器的遠程運行診斷。
在傳統的設備維護概念中，現場支持是解決問題的主要手段，而在新的技術條件下，遠程協支持明顯優于現場支持模式，系統數據表明，在IT行業中有不低于70%的系統失敗屬于軟件故障，其中絕大部分可以通過遠程方式解決，因此說遠程服務是提高工作效率，節省維護費用的有力手段。而現在的網絡發展也使這一手段成為可能，在用戶允許的前提下，我們的將通過遠程登入的方式，快速而直接的對系統進行診斷與故障排除。
因此當電話支持不足以解決問題或故障情況比較復雜時，我們的技術人員將在甲方技術人員的協助下，通過遠程登錄進入用戶的局域網。我們的技術人員在用戶技術人員的協助下確定故障原因，找出解決問題并排除問題的辦法。
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