便攜式X熒光分析儀是天瑞儀器結(jié)合10年手持式XRF技術(shù)研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計(jì)算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù)，具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的全新一代便攜式XRF產(chǎn)品。采用SDD探測(cè)器的手持XRF光譜儀explorer探險(xiǎn)者系列配SDD探測(cè)器，元素檢測(cè)限和分辨率都得到了提升。
檢測(cè)元素：可同時(shí)分析40個(gè)元素
性：合金版分析軟件，采用智能一鍵測(cè)試
擁有500多種牌的智能合金庫(kù)
EXPLORER 5000 可準(zhǔn)確檢測(cè)貴金屬合金、高低合金鋼、不銹鋼、工具鋼、鉻/鉬鋼、鎳合金、鈷合金、鎳/鈷耐熱合金、鈦合金、銅合金、青銅、鋅合金、鎢合金等，無(wú)損檢測(cè)，1秒鐘即可知曉材料的成分及合。還可對(duì)鋁、輕合進(jìn)行快速，并可對(duì)材料進(jìn)行可靠性鑒別(PMI)和確認(rèn)，掌控材料品質(zhì)。
材料可靠性鑒別
在合金材料生產(chǎn)、機(jī)械設(shè)備加工制造過(guò)程中，對(duì)于材料的辨識(shí)與元素檢測(cè)是不可分割的，
EXPLORER 5000 無(wú)損檢測(cè)能有效防止原材料混料，杜絕不必要的損失。
工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的品質(zhì)控制
EXPLORER 5000 無(wú)損檢測(cè)可用于鋼鐵冶煉、鍋爐等高溫高壓行業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的品質(zhì)控制與管理，確保材料品質(zhì)；船舶制造、等高技術(shù)行業(yè)中合金成分的識(shí)別，從而保障產(chǎn)品質(zhì)量與安全；電力電站等有關(guān)國(guó)計(jì)民生行業(yè)中，設(shè)備零部件是否達(dá)標(biāo)，保證設(shè)備安全。
廢舊金屬回收與再利用
針對(duì)廢舊金屬回收與利用行業(yè)，EXPLORER 5000 可以對(duì)大量金屬?gòu)U料進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)和快速分類(lèi)。可用于倉(cāng)庫(kù)積壓鋼材回收；廢品收購(gòu)站金屬分類(lèi)；車(chē)削切屑或刨屑碎片等各個(gè)廢舊金屬回收利用環(huán)節(jié)。是廢舊金屬回收再利用行業(yè)中進(jìn)行金屬識(shí)別、鋼材識(shí)別的有力。
秉承20多年X熒光光譜儀(手持式光譜儀)研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，天瑞儀器全新一代手持XRF礦石分析儀——探索者EXPLORER 7000再次帶來(lái)了一場(chǎng)分析領(lǐng)域的革命。EXPLORER 引入數(shù)字多道技術(shù)，使檢出限更低，穩(wěn)定性更高，適用面更廣，性能媲美臺(tái)式機(jī)；小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類(lèi)地質(zhì)礦樣多元素檢測(cè)和分析、礦渣精煉分析中充分發(fā)揮作用，使探礦工作更為簡(jiǎn)單、輕松。

土壤重金屬檢測(cè)儀檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
 重金屬具有持久性、性和生物富集作用，由其引起的環(huán)境污染對(duì)生物和人類(lèi)健康均造成嚴(yán)重危害。土壤中的重金屬污染因其具有滯后性、隱蔽性、和成長(zhǎng)性的特點(diǎn)，因此需要采用的儀器分析方法對(duì)元素進(jìn)行定量分析才能獲得較高的精度和準(zhǔn)確度，但是采用高靈敏度的儀器分析時(shí)，由于土壤處于不均勻非溶液狀態(tài)，所以需要對(duì)土壤進(jìn)行溶解，分解或消解等預(yù)處理，使之變成適合儀器分析的溶液狀態(tài)，并排除干擾成分，使儀器能對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析測(cè)定，因此對(duì)土壤進(jìn)行的預(yù)處理顯得尤為重要。
土壤重金屬檢測(cè)儀檢測(cè)方法
 原子熒光光譜法是利用激發(fā)光源發(fā)出的特征發(fā)射光照射一定濃度的帶測(cè)元素的原子蒸汽，使之產(chǎn)生原子熒光，在一定條件下，熒光強(qiáng)度與被測(cè)溶液中待測(cè)元素的濃度關(guān)系遵循Lambert-Beer定律。該方法的特點(diǎn)是靈敏度高、譜線簡(jiǎn)單、精密度好、干擾少和操作簡(jiǎn)單方便、在低濃度時(shí)校準(zhǔn)曲線的線性范圍寬達(dá)3~5個(gè)數(shù)量級(jí)，特別是用激光做激發(fā)光源時(shí)更佳，但其存在熒光淬滅效應(yīng)，散射光干擾等問(wèn)題。原子熒光光譜法的應(yīng)用領(lǐng)域是金屬元素的測(cè)定環(huán)境、科學(xué)、高純物質(zhì)、礦物、水質(zhì)、生物制品和分析等。

手持式X熒光光譜儀 屬于江蘇天瑞儀器股份有限公司的產(chǎn)品，設(shè)備采用了能量色散X射線熒光光譜技術(shù)實(shí)現(xiàn)土壤中微量金屬有害元素的快速檢測(cè)，設(shè)備采用了的探測(cè)器和激發(fā)源等硬件配置。
本產(chǎn)品除了測(cè)量土壤和水系沉積物外，還可以用于稻米、小麥、谷物、等作物中的重元素鎘（Cd）、鉛（Pb）、（As）和（Se）的快速無(wú)損檢測(cè)。
性能參數(shù)
產(chǎn)品型：Explore0
產(chǎn)品名稱(chēng)：X熒光光譜儀 
測(cè)量元素范圍：從（S）到鈾（U）
元素含量分析范圍：  ppm—（不同元素，分析范圍不同） 
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素 
測(cè)量時(shí)間：60秒-300秒 
探測(cè)器能量分辨率為：可達(dá)125eV
管壓：5KV-70KV 
管流：50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC  110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃ 
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：380mm×360mm×418mm
性能特點(diǎn) 
超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際水平 
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試，計(jì)數(shù)率達(dá)到0cps，精度更高。
FastSDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元 
針對(duì)不同元素自動(dòng)切換濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣 
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增應(yīng)得到明顯的抑制
儀器具備安全許可證，且對(duì)設(shè)備進(jìn)行三重X射線屏蔽設(shè)計(jì)，保證了環(huán)境下無(wú)泄漏，讓測(cè)試人員安全放心的使用
硬件聯(lián)動(dòng)裝置，權(quán)限安全鎖，保證軟件失效的情況下還能對(duì)設(shè)備進(jìn)行控制，保證設(shè)備在使用中的安全無(wú)放射
標(biāo)準(zhǔn)配置 
超薄窗X光管 
Fast  SDD硅漂移探測(cè)器 
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng) 
高信噪比電子線路單元 
自動(dòng)切換濾光片 
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置 
三重安全保護(hù)模式 
相互的基體效應(yīng)校正模型 
多變量非線性回歸程序
應(yīng)用案例

更安全的防護(hù)
1：智能三色預(yù)警系統(tǒng)：LED三色長(zhǎng)燈帶設(shè)計(jì)，360度無(wú)死角顯示。通電開(kāi)機(jī)時(shí)綠燈亮，測(cè)試紅燈閃爍，設(shè)備故障燈閃爍，儀器狀態(tài)，一目了然。
2：三重安全防護(hù)功能：
a: 自動(dòng)感應(yīng)，沒(méi)有樣品時(shí)儀器不工作，無(wú)射線泄漏。
b: 采用加厚防護(hù)測(cè)試壁，有效防止散射。
c: 配送防護(hù)安全罩，防周邊輕基體散射。
3：安全聯(lián)動(dòng)鎖裝置，當(dāng)軟件無(wú)法控制關(guān)閉，輕輕一按，時(shí)間保護(hù)您的安全，守護(hù)后關(guān)卡。
助力污染區(qū)土壤修復(fù)
對(duì)污染地帶進(jìn)行等級(jí)劃分，圈定重點(diǎn)土壤污染區(qū)，按照劃分好的區(qū)域進(jìn)行重點(diǎn)優(yōu)選治理，提高篩查效率，并實(shí)時(shí)污染區(qū)的土壤修復(fù)情況。
便攜式X熒光分析儀性能優(yōu)勢(shì)：
1，更便捷的操作
1、重量輕，體積小，人體工程學(xué)把手設(shè)計(jì)，配有儀器套，更易抓握，野外使用更方便。
2、270 °可旋轉(zhuǎn)5寸高清屏，支持多點(diǎn)操控，光線下都能清晰顯示。
3、密封式一體設(shè)計(jì)，具備防水防塵功能，可在惡劣環(huán)境下連續(xù)使用。
4、無(wú)需制備樣品，可直接對(duì)待測(cè)物表面進(jìn)行測(cè)定。儀器既可手持進(jìn)行快速測(cè)試，也能使用測(cè)試座對(duì)樣品進(jìn)行較長(zhǎng)時(shí)間的精細(xì)測(cè)試。
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