ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
rohs檢測儀器的原理是利用x射線熒光技術進行元素含量分析的儀器，待測樣品被x射線激發產生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導體探測技術可以檢測到熒光值，結合現代計算機技術，通過復雜的數學函數，算出待測物品的元素含量。
特的激發X光源
激光X光源、樣品激發裝置和探測系統，大大提高儀器元素的檢測靈敏度，降低檢出限。
性能、微量X熒光檢出
采用特的光路設計和雙引擎設計，并結合使用多組濾片和多組光管激發材的切換，大大地降低了儀器的信噪比，使該儀器在X熒光設備中具有的元素檢出限。
大器穩重、準確無損
大樣品腔設計，適合于不同大小和形狀的樣品測試。采用了多重信號的電路處理和濾波技術，使測試更加穩定準確。
自動化程度高、高清攝像頭
儀器多組濾片和光路自動切換，自動升降測試蓋，高清攝像頭。

EDX采用新一代的鈹窗X大功率光管，比市場上其它同類設備壽命提高了5000小時，為了壓縮成本，在產品結構優化和硬件上進一步高質設計，減少一些不必要的-客戶在實際使用中并用不上的軟硬件配置，很大程度上節省了產品的成本費用，使得成本降低20%多，直接讓利給客戶。成為市場上的暢銷型產品。成為很多小型工廠的。在應用上屬于通用型產品，應用于一切材料的ROHS和無鹵檢測，EDX5500對被檢測材料的種類，化學或物理性質都沒有限制，無論是成品，或半成品，無論是金屬，塑膠，皮革，化工，鞋材，合成料，固體，液體，粉末等，都能準確，無損，快速地檢測。EDX5500-ROHS檢測儀器，廣泛應用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產和制造領域環保臨測。
技術參數
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）包含ROHS和鹵素的所有元素。可以準確定量。測量時間：200S
配新算法的ROHS分析軟件，鹵素分析軟件，材料成份分析軟件，軟件算法為德國。
檢出限：分析檢出限可達1ppm。含量范圍：1ppm～99.9%穩定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達135eV準直器：10種準直器自動切換濾光片：6種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業攝像頭環境濕度：≤70%環境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）

ROHS檢測儀主要性能優勢：
1、采用激發X光源，樣品激發結構和探測系統，提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現代化的外觀，結構和色彩，上蓋電動控制開關，更人性化；
3、準直器，濾光片自動切換，可適應不同的樣品測試要求；
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測試軟件。

隨著環境意識和健康意識的提高，人們對于汽車行業中有害元素和有機污染物的關注不斷增加。歐盟會和歐洲議會為保護環境、減少車輛報廢產生的廢棄物制定了ELV（End-of-Life Vehicle）即報廢車輛指令，明確規定2003年7月以后生產的汽車禁用鉛、鎘、汞和六價鉻四種有害物。2012年3月1日，國家環保部與質檢總局聯合發布了GB/T 27630《乘用車內空氣質量評價指南》，明確規定了車內空氣中有關苯、、二、乙苯、苯乙烯、、乙醛、8種常見的車內揮發性有機物濃度的限值。給客戶提供一個更加健康舒適的乘車環境，是對汽車生產制造企業的必然要求。
天瑞儀器為分析儀器的，一直致力于為客戶提供更加的產品和更加滿意的服務。天瑞儀器針對汽車行業測試需求（有害元素分析、有機污染物分析、合金材料分析、涂覆層厚度測試）給出相應的測試方案。
一、有害元素分析
歐盟議會和理事會在2000年9月18日頒布了“2000/53/EC關于報廢汽車的技術指令”，規定在2003年7月以后，原則上要求汽車材料不能含有鉛、汞、鎘和六價鉻四種有害物。這是全球對汽車材料含重金屬問題進行規范。此后，歐盟相繼頒布了“2002/525/EC”和“2005/673/EC”技術指令，對原“2000/53/EC”技術指令附錄二中有關重金屬禁用的豁免條款進行了修訂，終形成了歐盟對汽車產品重金屬禁用的技術法規體系。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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