本產品是在天瑞儀器多年貴金屬檢測技術和經驗基礎之上研發的新型測試儀，采用新一代探測器及多道技術，實現超高計數率，1秒出結果，準確分析貴金屬含量。同時，具備二維平臺及高清工業攝像頭，實現樣品定位。（可對99.99%黃金進行有效分析）

性能特點

快,1秒鐘出結果
1、采用行業的極速探測器技術——（SDD）分辨率至125eV
優勢：探測面積大（面積達25m㎡）、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好
對貴金屬的探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
2、采用行業的數字多道技術
優勢：有效提高輸出效率，實現超高計數率，保證采集有效計數率超過600KCPS
3、采用大功率X光管及的準直濾光系統
優勢：使貴金屬的激發效率更高
4、光閘系統
優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度

精密的定位系統
超高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點

多點測試
2D全自動樣品臺——可實現圖像聯動控制，多點連續測試

超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
可區分99.9%及99.99%黃金純度
可測量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等

人性化的設計
更安全：X射線聯動安全裝置----光閘與聯動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預約預熱：根據設定時間，儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態；同時可以實現預約關機，關機前可設定聲光提示

技術參數

測量元素范圍：硫(S)～鈾(U)
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
元素含量分析范圍：2ppm～99.99%
探測器：SDD探測器，分辨率可達125eV
管流：≤1000uA
管壓：5～50kV
測量時間：1s或以上(可調)
濾光片：4種濾光片切換
準直器：8種準直器自動切換
樣品觀察：高清工業攝像頭
環境濕度：≤70%
環境溫度：15℃～30℃
制冷方式：電制冷，無需任何耗材
輸入電壓：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩壓電源

儀器配置

SDD探測器
數字多道分析系統
X射線源
高低壓電源
準直器濾光片系統
精密平臺
光閘系統
樣品觀測系統
電子控制系統
計算機及噴墨打印機

應用領域

首飾加工廠 
金銀珠寶首飾店 
貴金屬冶煉廠 
質量檢驗部門
分析測試中心
典當行
貴金屬回收

針對EDX0在各個領域的廣泛應用，根據優化產品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款EDX0B。應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。

性能特點

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率

技術指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

標準配置

樣品平臺
電制冷Si-PIN探測器
檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機

應用領域

RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

產品名稱：手持貴金屬分析儀
手持式貴金屬檢測儀主要特性
手持式貴金屬檢測儀的程序的設計充分考慮了小樣品，不規則的形狀和曲面——即使是小于光束直徑的樣品情況，使得在測量更加人性化，更加便捷。S1TITAN手持式貴金屬檢測儀在測量大的樣品時可直接放在可選的桌面或臺式架上。對于環狀或鏈狀的樣品同樣輕松檢測。如杯子，盤子等。S1TITAN設有遠程控制系統，同時可提供自定義報告,包括測試樣品的照片。
S1TITAN能快速識別常見的合金。結果報告直接以克拉形式顯示，同時包含其它所有檢測到的元素，并以%形式顯示。當設備檢測到可疑成分或首飾中的克拉值低于標準值時系統會發出警報。
貴金屬分析儀重點檢測首飾、珠寶、黃金等飾品中的Au,Ag,Cd,Co,Cr,Cu,Fe,In,Ir,Mn,Ni,Pb,Pd,Pt,Rh,Ru,,Sn,Ti,Zn等元素，Bruker手持式貴金屬分析儀提供了一個準確和可靠的解決方案進行分析黃金和其他貴重金屬樣品的工具。可以方便地測量儀的珠寶樣品的形狀和大小。S1TITAN貴金屬分析儀操作簡單，完全無損，是分析黃金和其他貴金屬的理想工具。

本產品符合國標GB/T 43-2013對儀器分辨率的要求，EDX 3000采用Si-Pin半導體探測器，遠勝于正比計數探測器； 準確無誤地分析黃金， 鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量。

性能特點

長效穩定光管
半導體硅針電制冷系統，摒棄液氮制冷
特別開發應用軟件，操作界面十分友好
內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品
數字脈沖處理器，數據處理快速準確
放大電路、高低壓電源
單樣品腔，手動開關機蓋，操作安全、方便
三重安全保護模式
多變量非線性回歸程序
相互的基體效應校正模型

標準配置

Si-PIN半導體探測器、數字多道分析系統、X光管、高低壓電源
準直器濾光片系統、樣品觀測系統、電子控制系統、計算機及打印機

應用領域

質檢中心
金銀珠寶首飾店
首飾加工廠
貴金屬冶煉廠
典當行
分析測試中心
貴金屬回收
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