XRF分析儀器是利用X射線無損檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

超薄窗X光管，指標達到國際水平
新的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術參數(shù)

產(chǎn)品型：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標準配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）

天瑞儀器公司是全球生產(chǎn)高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、臺式X熒光合金分析儀EDX3600H,融匯全球的合金分析技術，配備合金測試效果的智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。



EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試開發(fā)的儀器類型。 
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。 
同時具有合金測試、合分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。 
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。

性能特點:

超薄窗X光管，指標達到國際水平 
針對合金的測試而開發(fā)的配件 
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 
天瑞儀器產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高處理能力25倍以上 
低能X射線激發(fā)待測元素，對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好 
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性； 
高信噪比的電子線路單元 
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制； 
內置高清晰攝像頭 
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

標準配置：

合金測試超薄窗X光管 
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
信噪比增強器 SNE
光路增強系統(tǒng) 
高信噪比電子線路單元 
內置高清晰攝像頭 
自動切換型準直器和濾光片 
自動穩(wěn)譜裝置 
三重安全保護模式 
相互的基體效應校正模型 
多變量非線性回歸程序 
整體鋼架結構，力度可靠的保證 
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm 
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

技術指標：

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U） 
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 
同時分析元素：一次性可測幾十種元素 
分析精度：0.05%（含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性） 
測量時間：60秒-200秒 
能量分辨率為：（140±5）eV 
管壓：5KV-50KV 
管流：50uA-1000uA

應用領域：

檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品

國產(chǎn)xrf光譜儀介紹

EDX4500 國產(chǎn)X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、材料中元素的快速、準確分析。
該技術的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率：采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

性能特點

的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

技術指標

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99% 
同時分析元素：24種元素同時分析
功能范圍：水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析
分析精度：0.05% （對含量96%以上元素） 
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體 
測量時間：60s—200s  
能量分辨率為：（±5）eV  
管壓：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA

標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器 
光路增強系統(tǒng) 
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片 
的升降平臺 
加強的金屬元素感度分析器 
外觀尺寸： 650×608×466 mm 
樣品腔尺寸：?315×95mm
重量：105kg 

超薄窗X光管，指標達到國際水平 
新的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 
天瑞儀器產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高處理能力25倍以上 
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好 
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元 
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去

測試高爐渣、生鐵、燒結礦、球團礦、白云石、膨潤土、石灰石、普硅等，還可以廣泛應用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。

儀器技術指標：
1、分析元素范圍 ： 從硫（S）到鈾（U）
2、測試對象：固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍：1ppm—99.99% 
4、同時分析元素：幾十種元素同時分析
5、任意多個可選擇的分析和識別模型
6、相互的基體效應校正模型
7、多變量非線性回歸程序
8、多次測量重復性可達：0.05％ (含量大于96%的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃  
10、工作濕度：≤70%  
11、工作電壓：220V AC
12、樣品腔尺寸：*100mm
13、儀器尺寸：212*258*258mm
14、儀器重量：5kg
15、建議測量時間 10-200S可以調

儀器配置：
1、探測模塊：Si-PIN
2、X射線源：40kV、100uA
3、準直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自動切換
4、濾光片：內置Al Ti Cu
5、樣品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，軟件安裝在Microsoft Windows CE系統(tǒng)操作靈活簡單，很好的支持PDA系統(tǒng)升級和軟件升級
7、指示和警告：電源指示燈，警告燈
8、保護系統(tǒng)：上蓋打開時，高壓自動關閉
9、樣品放置：配萬向測試支架，隨心放置各種樣品
10、報告輸出：藍牙打印
11、安全防護箱：400*300*350mm，4.5kg

應用領域
主要應用黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
http://www.wszdzyxx.cn