XRF檢測設備應用領域： 
1.電子、磁性材料領域：用來研究半導體、磁光盤、磁性材料、電池、線路板、電容囂等；
2.化學工業領域：可用來研究無機、有機制品、化學纖維　催化劑、涂料、顏料、品　、化妝品、洗滌劑、橡膠、調色劑等成分；
3.鋼鐵、有色金屬領域：可用來研究和測定各種合金成分；
4.陶瓷、水泥領域：可用來測定水泥、水泥原料、陶瓷、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、巖石等；
5.農業、食品工業中可用來檢測中土壤、肥料、植物、食品等；

超薄窗X光管，指標達到國際水平
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
 
標準配置
 
超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術
鋼鐵行業測試配件
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

ROHS設備EDX0E范圍：硫（S）~
鈾（U）
分析檢出限：1ppm
分析含量：ppm~
99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍：15℃~
30℃
電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：144±5eV
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg儀器配置樣品平臺 
SDD探測器
檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機ROHS設備EDX0E應用領域RoHS（環保、重金屬）檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
檢測主要用于RoHS指令相關行業、貴金屬加工和首飾加工行業；銀
行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業；電子電器行業性能優勢下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復性0.05%·穩定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的水平與普通大氣環境狀態下相等
性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護ROHS設備EDX0E范圍介紹XRF:X射線熒光光譜分析(XRay
Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray
Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出

產品名稱：XRF檢測全元素設備
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
 
應用領域
 
XRF檢測全元素設備廣泛應用于鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）
 
廠家介紹
 
江蘇天瑞儀器股份有限公司，是生產x 鍍層測厚儀廠家，分析儀器上市公司（代碼：300165），產品打破了國外壟斷的局面，在電鍍行業中得到了客戶的廣泛應用和認可。
同時公司還生產ROHS檢測儀，XRF檢測設備，液相色譜質譜儀（LCMS）,氣相色譜質譜聯用儀，x射線測厚儀，手持式ROHS光譜儀，ROHS檢測設備，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，EDX0B,ROHS檢測儀，首先ROHS檢測儀廠家，ICP光譜分析儀，ROHS2.0新增4項分析儀等。

利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。
性能特點
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
技術指標
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸：550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
X熒光光譜儀技術已成功應用于環境、食物鏈、動植物、農產品、人體組織細胞及、生物材料、組織細胞、試劑、動植物、代謝產物中的無機元素測定。
X熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U，含量范圍ppb至，檢出限到2pg。
X熒光光譜儀是一種波長較短的電磁，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。X射線光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特征，通過側里和分析樣品產生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質成分的定性和定量信息。
X熒光光譜儀優點
a)分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b)X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。
c)非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
d)X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e)分析精密度高。
f)制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
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