環(huán)保測(cè)試儀應(yīng)用背景：
 RoHS是由歐盟立法制定的一項(xiàng)強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)，它的全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》（Restriction of Hazardous Substances）。該標(biāo)準(zhǔn)已于2006年7月1日開始正式實(shí)施，主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn)，使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護(hù)。該標(biāo)準(zhǔn)的目的在于消除電機(jī)電子產(chǎn)品中的鉛、、鎘、六價(jià)鉻、多溴和多溴醚共6項(xiàng)物質(zhì)，并重點(diǎn)規(guī)定了鉛的含量不能超過(guò)0.1%。新指令2011/65/EU（RoHS 2.0）以取代2002/95/EC（RoHS） 新指令將于2011年7月21日生效。就RoHS2.0與RoHS進(jìn)行比較，其主要更改如下：
     1.將原先WEEE指令的附錄I和IA新增為RoHS的兩個(gè)附錄。
     2.自2014年1月1日到2019年1月1日，逐步將設(shè)備和設(shè)備納入RoHS的管制范圍。 
     3.制造商需在產(chǎn)品上市銷售之前制訂EC符合性聲明并加貼CE標(biāo)志，且在電子電氣產(chǎn)品上市之后，必須保留相關(guān)技術(shù)文件和EC符合性聲明至少十年。
     4.如果附錄III中列舉的物質(zhì)（如HBCDD、DEHP、BBP和DBP等）因使用對(duì)人體健康或環(huán)境造成無(wú)法承受的危害，則將依據(jù)REACH法規(guī)第69至72條的規(guī)定進(jìn)行評(píng)估，進(jìn)一步將此物質(zhì)列入附錄IV的限用物質(zhì)。
ROHS環(huán)保測(cè)試儀的性能描述：
半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷
自動(dòng)濾光片選擇
多種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
三重安全保護(hù)模式
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
樣品腔自動(dòng)開關(guān)
軟件定位樣品平臺(tái)，小位移 0.01 mm
自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，分別針對(duì)不同樣品
特別開發(fā)測(cè)量軟件，操作界面十分友好
內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時(shí)檢測(cè)樣品
高貴時(shí)尚的外型，帶給您全新的視覺沖擊
的自動(dòng)平臺(tái)，更方便地調(diào)節(jié)樣品位置
采用天瑞儀器產(chǎn)品--信噪比增強(qiáng)器 SNE，大幅提高光譜儀測(cè)量的確定性和度
配合自動(dòng)平臺(tái)全新開發(fā)的樣品定位系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)“點(diǎn)”哪測(cè)哪
鼠標(biāo)輕點(diǎn)樣品視圖中需要檢測(cè)部位，EDX0B 將樣品至位置，完成檢測(cè)。

ROHS環(huán)保測(cè)試儀器的應(yīng)用領(lǐng)域：
1、海關(guān)、質(zhì)檢局，第三方測(cè)試機(jī)構(gòu)等測(cè)試機(jī)構(gòu)QA檢驗(yàn)。
2、計(jì)算機(jī)、電話機(jī)、相機(jī)、手機(jī)等電子制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗(yàn)。
3、玩具、游戲機(jī)、文體設(shè)備等制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗(yàn)。
4、禮品、飾品、小五金等制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗(yàn)。
5、家具，油漆、涂裝等制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗(yàn)。
6、紡織品、皮革、食品等制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗(yàn)
7、冰箱、洗衣機(jī)、微波爐、空調(diào)等大型家用電器制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗(yàn)。
8、吸塵器、熨斗、干燥機(jī)、鐘表等小型家用電器制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗(yàn)。
9、收音機(jī)、電視機(jī)、樂器等視聽制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗(yàn)。
10、機(jī)床、加工設(shè)備、電動(dòng)工具等制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗(yàn)。

環(huán)保測(cè)試儀EDX4500H技術(shù)參數(shù):測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）,元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）,同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素。測(cè)量時(shí)間：30秒-200秒；探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV。管壓：5KV-50KV；管流：50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體。輸入電壓：AC 110V/220V。環(huán)境溫度：15℃-30℃；環(huán)境濕度：35%-70%。樣品腔體積：320mm×100mm；外形尺寸：660mm×510mm×350mm。重量：65Kg。


超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際水平。新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到0CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好。SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍。自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性。高信噪比的電子線路單元。針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣。解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度。多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制。內(nèi)置高清晰攝像頭。液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然。


天瑞儀器公司是全球生產(chǎn)高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、臺(tái)式X熒光環(huán)保測(cè)試儀EDX4500H,融匯合金分析技術(shù)，配備智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測(cè)試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測(cè)效果。同時(shí)，也大大提高了ROHS指令中有害物質(zhì)的分析精度和檢測(cè)限，可以實(shí)現(xiàn)無(wú)有害物質(zhì)指令的測(cè)試要求。
EDX4500H還是可以用于鍍層行業(yè)的儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)。是功能強(qiáng)大的鍍層測(cè)厚儀器，配上為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。完全滿足金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定要求。


售后服務(wù)：天瑞儀器在全國(guó)設(shè)有二十幾個(gè)服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)，為客戶提供的質(zhì)保服務(wù)。保修期內(nèi)同提高維修，軟件免費(fèi)升級(jí)，維修相關(guān)費(fèi)用全免。保修期結(jié)束后，交通費(fèi)、住宿費(fèi)實(shí)報(bào)實(shí)銷,服務(wù)費(fèi)800元  / 天。技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限短，在接到用戶故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有必要，12～72時(shí)內(nèi)派人維修和排除故障。

昆山環(huán)保測(cè)試儀EDX0B是經(jīng)濟(jì)有效的檢測(cè)設(shè)備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產(chǎn)過(guò)程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測(cè)試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等）、包裝物料的有元素測(cè)試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測(cè)試結(jié)果度極高。X熒光光譜儀的檢測(cè)結(jié)果可以和化學(xué)檢測(cè)媲美，還大大節(jié)省儀器購(gòu)置成本、使用成本和檢測(cè)時(shí)間成本。目前天瑞X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導(dǎo)綠色生產(chǎn)過(guò)程中必不可少的檢測(cè)工具。更準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果是天瑞人堅(jiān)持不懈的追求，同時(shí)天瑞人還時(shí)刻牢記為客戶提供更的服務(wù)。全新開發(fā)研制的EDX 3000D正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準(zhǔn)確、快速、無(wú)損、直觀及環(huán)保特點(diǎn)，同時(shí)EDX 3000D還采用了天瑞儀器產(chǎn)品的信噪比增強(qiáng)器進(jìn)一步提升了檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
性能特點(diǎn)
半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷
自動(dòng)濾光片選擇
多種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
三重安全保護(hù)模式
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
樣品腔自動(dòng)開關(guān)
軟件定位樣品平臺(tái)，小位移 0.01 mm
自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，分別針對(duì)不同樣品
特別開發(fā)測(cè)量軟件，操作界面十分友好
內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時(shí)檢測(cè)樣品
高貴時(shí)尚的外型，帶給您全新的視覺沖擊
的自動(dòng)平臺(tái)，更方便地調(diào)節(jié)樣品位置
采用天瑞儀器產(chǎn)品--信噪比增強(qiáng)器 SNE，大幅提高光譜儀測(cè)量的確定性和度
配合自動(dòng)平臺(tái)全新開發(fā)的樣品定位系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)“點(diǎn)”哪測(cè)哪
鼠標(biāo)輕點(diǎn)樣品視圖中需要檢測(cè)部位，EDX 3000D 將樣品至位置，完成檢測(cè)。
產(chǎn)品指標(biāo)

測(cè)試元素范圍：S-U中的元素；

探測(cè)器類型：Si-PIN電制冷 

探測(cè)器分辨率：145eV

高壓范圍：0-50kV，50W

X光管參數(shù)：0-50kV，50W側(cè)窗類；

光管材：Mo；

濾光片：4種復(fù)合濾光片自動(dòng)切換；

微范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

開蓋方式：隨意自動(dòng)停

測(cè)試樣品種類：液體、固體和粉末

測(cè)量范圍：1ppm—99.99%

測(cè)量用時(shí)：120-400秒

測(cè)試環(huán)境：非真空測(cè)試

RoHS檢出限Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm，

準(zhǔn)直器：1mm 2mm 4mm

環(huán)保測(cè)試儀的技術(shù)優(yōu)點(diǎn):
1、分析速度高 測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
3、非破壞分析在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)屬同一族的元素能進(jìn)行分析。

環(huán)保測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
隨著歐盟ROHS環(huán)保指令的深入影響和環(huán)保發(fā)展趨勢(shì)越來(lái)越嚴(yán)格，X射線熒光環(huán)保測(cè)試儀在電子電器行業(yè)得到廣泛使用。天瑞儀器是生產(chǎn)環(huán)保測(cè)試儀的廠商，公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探測(cè)器，提供激發(fā)效率和測(cè)試精度。

環(huán)保測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

環(huán)保測(cè)試儀的工作原理
利用X射線熒光光譜儀，使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特息。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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