采用CMOS檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES8000s是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優選擇。

全譜分析技術，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現場補充配置

儀器體積小巧，對實驗室空間要求低

全天候工作，具有優異的穩定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護簡單、方便，對人員要求低

原廠安裝分析程序，測試數據，適用合齊全

配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正

不使用化學試劑，測試過程安全、環保

 

技術優勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產品元素分析，快速、、穩定、可靠測試幾十種元素，滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面檢驗需求，是生產金屬產品的*設備。

全譜檢測全面測試各種金屬和元素

基于CCD檢測器全譜測試技術，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現多基體、多元素的測試。

配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。

 

國際供應商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優異的光譜分辨能力

光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲

 

光室恒溫系統

光室恒溫腔體內配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內恒溫。

由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。除維護，平時保養一般不需進行描跡。

同時檢測器工作在恒溫環境有助于光電轉換性能的穩定。

 

快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內呈現測試結果。

可根據客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。

 

的測試方案

長期測試技術服務的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、標準樣品校準，經儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。

 

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70%

電    源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體

原子發射光譜分析是根據原子所發射的光譜來測定物質的化學組分的。不同物質由不同元素的原子所組成，而原子都包含著一個結構緊密的原子核，核繞著不斷運動的電子。每個電子處于一定的能級上，具有一定的能量。在正常的情況下，原子處于穩定狀態，它的能量是的，這種狀態稱為基態。但當原子受到能量（如熱能、電能等）的作用時，原子由于與高速運動的氣態粒子和電子相互碰撞而獲得了能量，使原子中外層的電子從基態躍遷到更高的能級上，處在這種狀態的原子稱激發態。電子從基態躍遷至激發態所需的能量稱為激發電位，當外加的能量足夠大時，原子中的電子脫離原子核的束縛力，使原子成為離子，這種過程稱為電離。原子失去一個電子成為離子時所需要的能量稱為一級電離電位。離子中的外層電子也能被激發，其所需的能量即為相應離子的激發電位。處于激發態的原子是十分不穩定的，在極短的時間內便躍遷至基態或其它較低的能級上。

光譜分析儀是一種用于測量發光體的光譜，即發光體本身的指標參數的儀器。廣泛應用于科研、教學、工業等多領域。CNI提供、、軟件分析等產品。
光譜分析儀的優點：
1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節約取樣帶來的損耗。
2.測試速率高，可設定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出。
3.對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測。
4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現場分析，從而達到快速檢測。
5.分析結果的準確性是建立在化學分析標樣的基礎上。
光譜分析儀的缺點：
1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準確檢測。
2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能做為認證依據。
3.受各企業產品相對壟斷的因素，購買和維護成本都比較高，性價比較低。
4.需要大量代表性樣品進行化學分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實際。
5.模型需要不新，在儀器發生變化或者標準樣品發生變化時，模型也要變化。
6.建模成本很高，素分析儀測試成本也就比較大了，當然對于大量樣品檢測時，測試成本會下降。
7.易受光學系統參數等外部或內部因素影響，經常出現曲線非線性問題，對檢測結果的準確度影響較大。

1.光譜分析儀（計）系統優點
光譜分析儀（計）系統采用的全息平場凹面衍射光柵和高性能帶電子快門控制技術的線性CCD陣列探測器組成。并采用控制雜散光技術、精密陣列探測器電子驅動技術和寬動態線性技術，整個系統達到雜散低、動態范圍寬、毫秒級的測試速度及傳統機械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀（計）系統組成

CMS光譜分析儀（計）、積分球、精密交直流電源、校準定標系統及其他高精度儀器等組成。
3.光譜分析儀（計）系統參考標準（LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數測量部分標準）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀（計）系統測量參數：  

色品坐標（x,y）、相關色溫、光通量、光效、能效指數（EEI）、能效等級、顯色指數、顏色質量量表、色品坐標（u,v）、色品坐標（u`,v`）、主波長、色純度、峰值半寬度、色比、光功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺光通量、中間視覺光通量及電參數等參數。
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