天瑞環(huán)保測(cè)試儀的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率：采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有好的分析精度；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

性能特點(diǎn)

的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測(cè)和RoHS檢測(cè)。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器處理能力25倍。
針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。
電制冷UHRD探測(cè)器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99% 
同時(shí)分析元素：24種元素同時(shí)分析
功能范圍：水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析
分析精度：0.05% （對(duì)含量96%以上元素） 
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體 
測(cè)量時(shí)間：60s—200s  
能量分辨率為：（±5）eV  
管壓：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA

標(biāo)準(zhǔn)配置
電制冷UHRD探測(cè)器
信噪比增強(qiáng)器 
光路增強(qiáng)系統(tǒng) 
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片 
的升降平臺(tái) 
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器 
外觀尺寸： 650×608×466 mm 
樣品腔尺寸：?315×95mm
重量：105kg 

國(guó)產(chǎn)x熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

測(cè)試高爐渣、生鐵、燒結(jié)礦、球團(tuán)礦、白云石、膨潤(rùn)土、石灰石、普硅等，還可以廣泛應(yīng)用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。

環(huán)保測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
隨著歐盟ROHS環(huán)保指令的深入影響和環(huán)保發(fā)展趨勢(shì)越來(lái)越嚴(yán)格，X射線熒光環(huán)保測(cè)試儀在電子電器行業(yè)得到廣泛使用。天瑞儀器是生產(chǎn)環(huán)保測(cè)試儀的廠商，公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探測(cè)器，提供激發(fā)效率和測(cè)試精度。

環(huán)保測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

環(huán)保測(cè)試儀的工作原理
利用X射線熒光光譜儀，使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特息。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

ROHS光譜環(huán)保測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域

RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)


ROHS環(huán)保測(cè)試儀性能優(yōu)勢(shì)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
檢測(cè)75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
儀器上蓋的測(cè)試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護(hù)
測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍：硫（S）~ 鈾（U）
分析檢出限：1ppm
分析含量：ppm ~ 99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍：15℃ ~ 30℃
電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：144±5eV
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg

ROHS光譜測(cè)試儀儀器配置

樣品平臺(tái) 
SDD探測(cè)器
檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

昆山環(huán)保測(cè)試儀EDX0B是經(jīng)濟(jì)有效的檢測(cè)設(shè)備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產(chǎn)過(guò)程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測(cè)試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等）、包裝物料的有元素測(cè)試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測(cè)試結(jié)果度極高。X熒光光譜儀的檢測(cè)結(jié)果可以和化學(xué)檢測(cè)媲美，還大大節(jié)省儀器購(gòu)置成本、使用成本和檢測(cè)時(shí)間成本。目前天瑞X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導(dǎo)綠色生產(chǎn)過(guò)程中必不可少的檢測(cè)工具。更準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果是天瑞人堅(jiān)持不懈的追求，同時(shí)天瑞人還時(shí)刻牢記為客戶提供更的服務(wù)。全新開發(fā)研制的EDX 3000D正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準(zhǔn)確、快速、無(wú)損、直觀及環(huán)保特點(diǎn)，同時(shí)EDX 3000D還采用了天瑞儀器產(chǎn)品的信噪比增強(qiáng)器進(jìn)一步提升了檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
性能特點(diǎn)
半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷
自動(dòng)濾光片選擇
多種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
三重安全保護(hù)模式
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
樣品腔自動(dòng)開關(guān)
軟件定位樣品平臺(tái)，小位移 0.01 mm
自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，分別針對(duì)不同樣品
特別開發(fā)測(cè)量軟件，操作界面十分友好
內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時(shí)檢測(cè)樣品
高貴時(shí)尚的外型，帶給您全新的視覺沖擊
的自動(dòng)平臺(tái)，更方便地調(diào)節(jié)樣品位置
采用天瑞儀器產(chǎn)品--信噪比增強(qiáng)器 SNE，大幅提高光譜儀測(cè)量的確定性和度
配合自動(dòng)平臺(tái)全新開發(fā)的樣品定位系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)“點(diǎn)”哪測(cè)哪
鼠標(biāo)輕點(diǎn)樣品視圖中需要檢測(cè)部位，EDX 3000D 將樣品至位置，完成檢測(cè)。
產(chǎn)品指標(biāo)

測(cè)試元素范圍：S-U中的元素；

探測(cè)器類型：Si-PIN電制冷 

探測(cè)器分辨率：145eV

高壓范圍：0-50kV，50W

X光管參數(shù)：0-50kV，50W側(cè)窗類；

光管材：Mo；

濾光片：4種復(fù)合濾光片自動(dòng)切換；

微范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

開蓋方式：隨意自動(dòng)停

測(cè)試樣品種類：液體、固體和粉末

測(cè)量范圍：1ppm—99.99%

測(cè)量用時(shí)：120-400秒

測(cè)試環(huán)境：非真空測(cè)試

RoHS檢出限Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm，

準(zhǔn)直器：1mm 2mm 4mm

環(huán)保測(cè)試儀的技術(shù)優(yōu)點(diǎn):
1、分析速度高 測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
3、非破壞分析在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)屬同一族的元素能進(jìn)行分析。
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