ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
根據優化產品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款EDX 2000C。 
應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。
性能優勢:
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用 
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點 
高分辨率探測器：提高分析的準確性 
新一代高壓電源和X光管：性能穩定可靠，實現更高的測試效率
儀器配置:
移動樣品平臺 
信噪比增強器 
電制冷Si-PIN探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
新型X光管 
計算機及噴墨打印機

性能優勢
1、更便捷的操作
重量輕，體積小，人體工程學把手設計，配有儀器套，更易抓握，使用更方便。
270 °可旋轉5寸高清屏，支持多點操控，任何光線下都能清晰顯示。
密封式一體設計，具備防水防塵功能，可在惡劣環境下連續使用。
無需制備樣品，可直接對待測物表面進行測定。儀器既可手持進行快速測試，也能使用測試座對樣品進行較長時間的測試。
2、更的性能
無損快速檢測，對準即測，數秒即可報結果。性能堪比臺式機，檢測效果又快又準。
超近光路設計，提升計數率達到5倍以上，大大縮短測試時間，完全可以滿足手持檢測需求。
3、更強勁的電力
選配超大27000mAh鋰電池，續航工作時間可達三天。并配備交流和車載充電器，保證電力供應。
內置記憶電池，換電池不斷電。
4、更的配置
微型光管、SDD探測器、微型數字信號多道處理器及智能分析模塊核心技術的引入，使其具有臺式相近的測試精度。
采用超高主頻及大內存，超大存儲空間，可海量存儲數據。全新的數字多道技術，保證每秒有效采譜計數可達500kcps。
準直濾波系統，其組合達到極限12組，滿足客戶的不同條件下的檢測需求。
高清晰攝像頭，隨時觀察樣品測試位置，使測量更加精準。
5、更安全的防護
智能三色預警系統：LED三色長燈帶設計，360度無死角顯示。通電開機時綠燈亮，測試紅燈閃爍，設備故障燈閃爍，儀器狀態，一目了然。
三重安全防護功能：
a: 自動感應，沒有樣品時儀器不工作，無射線泄漏。
b: 采用加厚防護測試壁，有效防止散射。
c: 配送防護安全罩，防周邊輕基體散射。
安全聯動鎖裝置，當軟件無法控制關閉，輕輕一按，時間保護您的安全，守護后關卡。
6、更智能的軟件
EXPLORER5000T手持式鍍層測厚分析儀配有針對鍍層厚度分析的應用軟件，具有智能化、高靈敏度、測試時間短、自動判斷是否超標、操作簡易、可實現邊測邊打功能等特點。

性能優勢:
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用 
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點 
高分辨率探測器：提高分析的準確性 
新一代高壓電源和X光管：性能穩定可靠，實現更高的測試效率，高達100W的功率實現更高的測試效率
技術指標:
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
檢出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99％ 
重復性：0.05％（含量96％以上） 
穩定性：0.05％（含量96％以上）

抽真空的ROHS檢測儀和其它的非抽真空的ROHS檢測儀大的區別在于其多了一個真空泵的配置，在其檢測環鏡里是真空的狀態，這減少了空氣對一些輕元素的干擾，提高了檢測限，也提高的檢測的精準度和穩定性。
抽真空EX7900參數：
產品型號：EDX 7900
產品名稱：X熒光光譜儀 測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 同時分析元素：一次性可測幾十種元素 分析精度：0.05% （含量高于96%以上的樣品、21次測試穩定性） 測量時間：30秒-200秒 探測器能量分辨率為：145±5eV管壓：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA測量對象狀態：粉末、固體、液體輸入電壓：AC 110V/220V環境溫度：15℃-30℃ 環境濕度：35%-70%樣品腔體積：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg
硬件配置
超薄窗X光管 SDD硅漂移探測器 數字多道技術信噪比增強器 SNE光路增強系統 高信噪比電子線路單元 內置高清晰攝像頭 自動切換型準直器和濾光片 自動穩譜裝置 三重安全保護模式 可靠的整體鋼架結構90mm×70mm的狀態顯示液晶屏真空泵
應用領域
ROHS檢測，無鹵檢測，合金檢測、全元素成份分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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